[发明专利]记录和/或再现装置、处理缺陷区的方法及记录介质无效
| 申请号： | 02140729.0 | 申请日： | 2000-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN1399266A | 公开（公告）日： | 2003-02-26 |
| 发明（设计）人： | 李坰根;高祯完;金荣润;朴仁植;金伦基 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/10 | 分类号： | G11B20/10;G11B20/12;G11B7/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 马莹,邵亚丽 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种存储链接类型信息的记录介质和处理该介质中缺陷区的方法。记录介质存储表示紧跟在缺陷区后进行链接的信息，该信息将发生在一般递增记录模式中的链接类型和发生在缺陷区后的链接类型区别开。在用户数据记录前或用户数据正在记录时检测缺陷区并登记在预定区中。链接不仅应用到递增记录模式或有限重写记录模式，还应用到紧跟在缺陷区后的区域，提高了用户数据的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 记录 再现 装置 处理 缺陷 方法 介质 | ||
【主权项】：
1.一种记录和/或再现装置，用于在具有连续基本记录单元的记录介质中记录数据和从记录介质中读取数据，并处理记录介质的缺陷区，该装置包括：拾取器件，用于在记录介质上记录数据和/或从记录介质中再现数据；处理单元，检测在记录数据之前确认期间和记录数据时的缺陷区，并且在记录介质的缺陷管理区中登记缺陷区列表。
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