[发明专利]导磁构件端部缺陷检测装置无效

专利信息
申请号: 02139233.1 申请日: 2002-11-01
公开(公告)号: CN1405558A 公开(公告)日: 2003-03-26
发明(设计)人: 程顺峰;康宜华;武新军 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01N27/82 分类号: G01N27/82
代理公司: 华中科技大学专利中心 代理人: 方放
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 导磁构件端部缺陷检测装置,属于检测设备,特别涉及应用漏磁检测原理检测导磁构件缺陷的装置。用于快速准确地检测出导磁构件端部缺陷,解决常规漏磁法检测导磁构件时的端部盲区问题。本装置包括检测部分和信号处理部分,检测部分磁化器两磁极、检测探头和辅助导杆位于一条轴线上,检测探头为周向剖分的两级压紧结构,第一级压紧结构包括壳体、压簧、压块,第二级压紧结构包括扭簧、探测体及其端部的霍尔元件和聚磁片,信号处理部分包括预处理器、信号处理器、显示器和控制器。本装置增加辅助导杆解决检测时端部盲区问题、精度高、效率高、在油管、抽油管、钻杆、钢棒等构件检测中有广阔运用前景。
搜索关键词: 构件 缺陷 检测 装置
【主权项】:
1.一种导磁构件端部缺陷检测装置,包括检测部分和信号处理部分,检测部分的磁化器两磁极和检测探头由支撑件支撑位于一条轴线上、检测探头处于磁化器两极之间,信号处理部分包括信号采集及预处理器、信号处理器、显示器和控制器,其特征在于:(1)检测部分还包括辅助导杆和扫描驱动机构,辅助导杆用高导磁材料制成、其截面积大于等于被测构件端面截面积,位于磁化器两磁极和检测探头的同一条轴线上,其杆身与磁化器一极相接触;(2)扫描驱动机构连接检测探头或者辅助导杆、被测构件;(3)磁化器由2~50对磁钢迭放构成,其轴向有效工作长度L与被测构件端部待检长度L′关系为L≥4L′。
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