[发明专利]微孔自动测量方法及装置无效
| 申请号： | 02137742.1 | 申请日： | 2002-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN1493847A | 公开（公告）日： | 2004-05-05 |
| 发明（设计）人： | 袁旭军;林劲松;孟伟平;贾嘉 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学;上海正基机电有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/10 | 分类号： | G01B21/10;G06T1/00 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人： | 吴宝根 |
| 地址： | 20009*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种微孔自动测量方法及装置，方法步骤是：CCD摄像头将微孔通过显微镜放大后的图像输入计算机；用面积法对微孔图像进行滤波，找到最大象素数所对应的微孔；将微孔边界点坐标存入链表，计算得到微孔的中心点坐标，寻找0～180度方向上的孔径极大值，选取最大，最小值，得孔径平均值及圆度误差。装置由显微镜平台、光源、载物台、微孔及载波片、物镜、CCD摄像头、计算机主机、显示器组成，本发明优点是结构简单，抗噪声能力强，自动化程度高，提高了测量速度与精度。 | ||
| 搜索关键词： | 微孔 自动 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种微孔自动测量方法，其特征在于，方法步骤为：(1)CCD摄像头将物体上的微孔通过显微镜放大后的图像输入计算机；(2)采用面积法对微孔图像进行滤波，根据所测微孔与周围的椒盐噪声相比，其面积为最大这一特征，寻找二值化微孔图像中所有封闭图形的边界点，统计各个点的边界所包含的象素个数，找到最大象素数所对应的点即为微孔；(3)将微孔边界点坐标存入链表，计算得到微孔的中心点坐标，以该中心点为基准寻找0度～180度方向上的孔径极大值，再从这些孔径值中选取最大，最小值，对二者取均值即可得微孔孔径平均值，两者之差的二分之一即为圆度误差。
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