[发明专利]屏蔽罩静电荷灭弧室真空度检测方法及其装置无效
| 申请号： | 02137506.2 | 申请日： | 2002-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN1403791A | 公开（公告）日： | 2003-03-19 |
| 发明（设计）人： | 赵子玉;江秀臣;韩振东 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01L21/00 | 分类号： | G01L21/00;H01H33/668 |
| 代理公司： | 上海交达专利事务所 | 代理人： | 王锡麟 |
| 地址： | 200030*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 屏蔽罩静电荷灭弧室真空度检测方法及其装置属于检测领域。方法是利用屏蔽罩上积聚的静电荷数量，来判断灭弧室的真空度优劣，用本发明装置将屏蔽罩上的静电荷产生的直流电场从工频交流电场中提取出来，通过测量直流电场的大小得出屏蔽罩上的静电荷数值。装置由一个旋转式电场探头及配套电路组成，电场探头设置于开关柜的接地机壳上，配套电路设置于开关柜外，电场探头与配套电路通过电缆连接。本发明方法通过检测屏蔽罩上的静电荷间接获取真空灭弧室的真空度，装置结构简单、使用方便、测量灵敏度高、不影响灭弧室和断路器的绝缘性能，配合计算机采集系统，可方便地应用于真空灭弧室的真空度在线检测。 | ||
| 搜索关键词： | 屏蔽 静电荷 灭弧室 真空 检测 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1、一种屏蔽罩静电荷灭弧室真空度检测方法，其特征在于：利用屏蔽罩上积聚的静电荷数量来判断灭弧室的真空度优劣，当真空灭弧室处在正常范围的运行电压和真空度时，灭弧室的屏蔽罩上静电荷很小，而当真空灭弧室的真空度降低，绝缘强度随之降低时，触头与屏蔽罩间发生局部放电，灭弧室的屏蔽罩上则带有静电荷，将屏蔽罩上的静电荷产生的直流电场从工频交流电场中提取出来，通过测量直流电场的大小得出屏蔽罩上的静电荷数值。
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