[发明专利]具有软基准层的磁阻器件有效
申请号: | 02132343.7 | 申请日: | 2002-09-24 |
公开(公告)号: | CN1466148A | 公开(公告)日: | 2004-01-07 |
发明(设计)人: | L·T·特兰;M·沙马 | 申请(专利权)人: | 惠普公司 |
主分类号: | G11C11/15 | 分类号: | G11C11/15;H01L43/08 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 陈景峻;梁永 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种磁阻器件(10)包括具有不同矫顽磁性的第一和第二铁磁层(12和14)以及第一和第二层(12和14)之间的隔离层(16)。每个铁磁层(12和14)具有在两个方向中的任何一个取向的磁化。 | ||
搜索关键词: | 具有 基准 磁阻 器件 | ||
【主权项】:
1.一种磁存储器件(10),包括:具有不同矫顽磁性的第一和第二铁磁层(12和14),每个铁磁层具有可以在两个方向中的任何一个取向的磁化;以及第一和第二铁磁层之间的隔离层(16)。
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