[发明专利]温度－频率特性法检测石英晶体密封特性的方法有效
| 申请号： | 02131192.7 | 申请日： | 2002-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN1414358A | 公开（公告）日： | 2003-04-30 |
| 发明（设计）人： | 李建平;刘亮 | 申请（专利权）人： | 李建平;刘亮 |
| 主分类号： | G01M3/00 | 分类号： | G01M3/00 |
| 代理公司： | 天津市学苑有限责任专利代理事务所 | 代理人： | 赵尊生 |
| 地址： | 300457 天津市经济*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及石英晶体密封特性的检验方法，特别是温度－频率特性法检测石英晶体密封特性的方法。它包括把待测的石英晶体放入装有介质环境的压力容器，使待测石英晶体完全淹没在介质环境中，通入0.1～1MPa的压缩空气，常温至60℃下保持至少5分钟，进行预处理。干燥外表面。放进石英晶体温度－频率特性实验箱中检测，每隔设定顺序测一次温度－频率特性，同正常石英晶体温度－频率特性标准值比较。本发明能对各类密封特性不良(俗称漏气)的石英晶体进行更为有效的判断，从而取代气泡法和氦质谱方法。并且还可以去除其它原因引起的品质问题的石英晶体。该方法成本低，速度快。 | ||
| 搜索关键词： | 温度 频率特性 检测 石英 晶体 密封 特性 方法 | ||
【主权项】：
1、一种温度-频率特性法检测石英晶体密封特性的方法，其特征在于该方法包括下述步骤：(1)把待测的石英晶体放入装有介质环境的压力容器，使待测石英晶体完全淹没在介质环境中；将此容器密封好，通入0.1～1MPA的压缩空气，常温至60℃下保持至少5分钟，进行预处理。(2)然后，取出经过预处理的待测的石英晶体，干燥外表面。(3)再把经过预处理的石英晶体放进石英晶体温度-频率特性实验箱中检测，每隔设定顺序测一次温度-频率特性，同正常石英晶体温度-频率特性标准值比较。
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