[发明专利]研磨垫有效
申请号: | 02130154.9 | 申请日: | 2002-08-23 |
公开(公告)号: | CN1407606A | 公开(公告)日: | 2003-04-02 |
发明(设计)人: | 日紫喜诚吾 | 申请(专利权)人: | 株式会社罗捷士井上 |
主分类号: | H01L21/304 | 分类号: | H01L21/304;B24B7/00 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 王维玉,丁业平 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供了一种高质量的研磨垫,它适合于半导体晶片等物体的化学机械研磨(CMP),该研磨垫不受研磨过程中研磨条件改变的影响,能够获得优良的研磨速率、台阶消除能力和均一性,其中使用了一种聚氨酯基泡沫(12),该泡沫具有微细和均一的气室(20),适合于半导体等材料的研磨,该泡沫通过使溶解有气体的原材料成型来获得,这种溶解有气体的原材料是通过在压力条件下,将惰性气体溶解在作为主要原材料和各种辅助原材料的聚氨酯或聚脲的混合物中而获得的。 | ||
搜索关键词: | 研磨 | ||
【主权项】:
1.一种研磨垫,由具有所需形状的聚氨酯基泡沫(12)构成,所述的泡沫通过一种方法获得,该方法包括:将作为主要原材料的聚氨酯或聚脲与各种辅助原材料混合,在压力下将惰性气体溶解在混合物中获得溶解有气体的原材料,然后再将溶解有气体的原材料通过反应注模法注射到反应注射模型(58)中,通过在注射模型(58)中的反应而获得所述的泡沫,其中聚氨酯基泡沫(12)具有微细和均一的气室(20),适合于半导体材料等的研磨。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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