[发明专利]内存模块测试修补方法及装置无效
| 申请号： | 02127589.0 | 申请日： | 2002-08-01 |
| 公开（公告）号： | CN1472651A | 公开（公告）日： | 2004-02-04 |
| 发明（设计）人： | 洪瑞麟;温国成 | 申请（专利权）人： | 南亚科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/16 | 分类号： | G06F11/16;G06F12/10;G06F9/445 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王学强 |
| 地址： | 台湾省桃园县龟山*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种内存模块测试修补方法及装置，其运用内存芯片中的备用存储单元，而于测试并发现内存模块故障时，记录其故障的内存地址，再以电气熔断方法来阻绝故障的内存地址的寻址路径，并选取一备用地址来取代，而无须再以人工方式更换出现故障的内存芯片，故可有效节省测试修补的人力与成本，并提高内存模块的生产量。 | ||
| 搜索关键词： | 内存 模块 测试 修补 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种内存模块测试修补方法，适用于测试并修补一内存模块，其特征是，该方法包括下列步骤：测试该内存模块；记录该内存模块中故障的该内存地址；以及阻绝故障的该内存地址的寻址路径，并选取一备用地址来取代。
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