[发明专利]X射线检查装置无效

专利信息
申请号: 02122164.2 申请日: 2002-05-31
公开(公告)号: CN1393205A 公开(公告)日: 2003-01-29
发明(设计)人: 植木広则;冈岛健一 申请(专利权)人: 株式会社日立医药
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王以平
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在X射线检查装置中,去除包含在X射线图像中的散射X射线成分,得到高质量的X射线图像,在作为X射线源的X射线管(1)与被检查体(6)之间配置X射线栅(3),构成为根据这时在X射线图像中产生的干涉条纹的振幅计算包含在X射线图像中的散射X射线成分并且进行去除,能够以较少的曝光线量,得到高品质的X射线拍摄像,X射线透视像,X射线CT像等。
搜索关键词: 射线 检查 装置
【主权项】:
1.一种X射线检查装置,其特征在于:具有产生X射线的X射线源;向检查对象照射上述X射线,检测上述检查对象的透射像的二维X射线检测器;配置在上述X射线源与上述检查对象之间的X射线栅;进行上述二维X射线检测器的输出的运算处理的运算处理装置,上述运算处理装置进行如下运算,即,以隔开预定个数的像素的间隔的抽样频率,在排列上述X射线栅的X射线吸收体栅的方向上,从上述透射像的图像中抽取像素,求出分别形成具有仅按预定角度程度不同的相位的干涉条纹的2个抽取图像的运算;根据上述2个抽取图像之间的像素值的差分求出表示干涉条纹的振幅分布的振幅分布图像的运算;使用上述振幅分布图像求出表示包含在上述透射像的图像中的散射X射线成分的分布的散射X射线分布图像的运算;从上述透射像的图像的像素值减去上述散射X射线分布图像的像素值,从上述透射像的图像去除上述散射X射线成分的运算。
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