[发明专利]一种Gamma对应表的建立方法以及根据该Gamma对应表执行的Gamma校正方法无效

专利信息
申请号: 02112428.0 申请日: 2002-07-08
公开(公告)号: CN1467683A 公开(公告)日: 2004-01-14
发明(设计)人: 林信宏 申请(专利权)人: 虹光精密工业(苏州)有限公司
主分类号: G06K9/30 分类号: G06K9/30
代理公司: 上海市华诚律师事务所 代理人: 徐申民
地址: 215021江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种Gamma对应表的建立方法以及依据该Gamma对应表执行Gamma校正的方法。首先,选取2M+1个主取样像素数据,将Gamma曲线分为2M个主Gamma线段。接着,连结相邻的主取样像素资料以形成2M段主取样直线。接着,分别计算第n主取样直线与第n主Gamma线段之最大差值,并依据该最大差值,在第n主Gamma线段中选取2Rn-1个次取样像素资料。之后,储存所有主取样像素资料及次取样像素资料之Gamma对应关系。在执行Gamma校正时,首先,依据像素资料之前M位,选取第a主取样像素资料。接着,依据像素资料的前M+1至M+Ra位,选取第b次取样像素资料及第b+1次取样像素资料。最后,依据第b次取样像素资料及第b+1次取样像素资料,以内插法得该像素资料之Gamma对应关系。
搜索关键词: 一种 gamma 对应 建立 方法 以及 根据 执行 校正
【主权项】:
1.一种Gamma对应表的建立方法以及依据该Gamma对应表执行的Gamma校正方法,用以得到一像素资料的Gamma对应关系,其特征在于该像素资料为一I位的二进制数据,I为一正整数,该方法包括下列步骤:a)建立一个Gamma对应表,其中,该Gamma对应表包括复数个取样像素资料,以及该取样像素资料的Gamma对应关系,该取样像素资料为I位的二进制数据,该Gamma对应表的建立方法包括下列步骤:a1)在一Gamma曲线上选取2M+1个主取样像素资料,依序为第1主取样像素资料、第2主取样像素资料......第2M+1个主取样像素资料,其中,M为小于I的正整数,该些主取样像素数据将该Gamma曲线分为2M个主Gamma线段,依序为第1主Gamma线段、第2主Gamma线段......第2M主Gamma线段;a2)连结相邻的每该主取样像素资料以形成2M段主取样直线,依序为第1主取样直线、第2主取样直线......第2M主取样直线,其中,第n主取样直线与第n主Gamma线段相对应,n分别为由1至2M的正整数;a3)分别计算第n主取样直线与第n主Gamma线段的最大差值Dn;a4)分别依据该最大差值Dn,于第n主Gamma线段中选取2Rn-1个次取样像素资料,依序为第1次取样像素资料、第2次取样像素资料......第2Rn-1次取样像素资料,其中,该Rn值与该第n主取样像素资料及该第n主Gamma线段相对应;以及a5)依据该Gamma曲线,在该Gamma对应表中储存该些主取样像素数据及该些次取样像素资料的Gamma对应关系;b)依据该Gamma对应表,执行Gamma校正,得到该像素资料的Gamma对应关系,包括下列步骤:b1)依据该像素资料的前M位,选取该第a主取样像素资料,其中,a为1至2M的正整数的一者;b2)依据该像素资料的前M+1至M+Ra位,选取一第b次取样像素资料及一第b+1次取样像素资料,其中,b为1至Ra的正整数的一者;以及b3)依据该第b次取样像素资料及该第b+1次取样像素资料值,以内插法得该像素资料的Gamma对应关系。
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