[发明专利]偏离中心的层析X射线照相组合法有效
| 申请号： | 01820162.8 | 申请日： | 2001-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN1479868A | 公开（公告）日： | 2004-03-03 |
| 发明（设计）人： | 戴尔·寒耶 | 申请（专利权）人： | 泰拉丁公司 |
| 主分类号： | G01N23/083 | 分类号： | G01N23/083 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 王维玉;丁业平 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及一种获得多个关注区域的偏轴X射线图象的装置和方法。所述装置包括：产生射线束的源(112)、支承多个关注区域(A、B、C)中至少一个子区的表面(120)、和定位以同时地接收穿过多个关注区域中的所述子区的射线束部分的X射线检测器(130)。从接收的射线束部分，X射线检测器对多个关注区域的所述子区中的每个关注区域的图象的产生电子表示。所述源、表面和检测器的任何组合可以在射线束范围内移动到关注区域的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 偏离 中心 层析 射线 照相 组合 | ||
【主权项】：
1.一种用于获得多个关注区域的偏轴X射线图象的装置，其包括：放射源，该源产生射线束；表面，其用于支承多个关注区域中的至少一个子区，和X射线检测器，将其定位，以同时地接收穿过多个关注区域的子区的射线束的一部分，在多个关注区域的子区中，X射线检测器将接收的射线束的一部分产生为每个关注区域的图象的电子表示；其中源、表面和检测器的至少其中之一可以移动到在射线束内的关注区域的位置。
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