[发明专利]借助离子迁移率谱法测量氮气、氢气和氧气中的杂质浓度的方法无效
| 申请号： | 01819344.7 | 申请日： | 2001-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN1476534A | 公开（公告）日： | 2004-02-18 |
| 发明（设计）人： | L·帕斯特拉;M·苏希;A·伯纳希;R·斯蒂迈克 | 申请（专利权）人： | 工程吸气公司 |
| 主分类号： | G01N27/64 | 分类号： | G01N27/64 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 蔡胜有 |
| 地址： | 意大利*** | 国省代码： | 意大利;IT |
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| 摘要： | 本发明描述了一种借助离子迁移率谱定量地分析氮气、氢气或氧气中的杂质浓度的方法，该方法是，利用氩气或者不含杂质且由要分析的气体与氩气组成的混合物作为离子迁移率谱仪隔离区中的逆流气体。 | ||
| 搜索关键词： | 借助 离子迁移率 测量 氮气 氢气 氧气 中的 杂质 浓度 方法 | ||
【主权项】：
1.一种借助离子迁移率谱测量氮气、氢气和氧气中的杂质浓度的方法，包括在离子迁移率谱仪的隔离区采用纯氩或者氩气与分析样品中载气的混合物作为逆流气体，所述混合物不含杂质，并在氩气/氮气混合物情况下，按体积计其至少含80％的氩气，在氩气/氢气或者氩气/氧气混合物情况下，其至少含50％的氩气。
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