[发明专利]光学记录介质的保护膜和光学记录介质无效
| 申请号： | 01801501.8 | 申请日： | 2001-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN1381046A | 公开（公告）日： | 2002-11-20 |
| 发明（设计）人： | 内山昭彦;串田尚;辻仓正一 | 申请（专利权）人： | 帝人株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/24 | 分类号： | G11B7/24;C08J5/18;//C08L10100;6900 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 庞立志,王其灏 |
| 地址： | 日本大阪*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于光学记录介质的光保护涂层,其特征在于它包含透明膜的一个片材,所述膜包含热塑性树脂,在550nm波长处具有不大于15nm的相差和在550nm波长处不大于40nm的K值,具有120℃或以上的玻璃化转变温度和不大于1wt%的吸水率。其中K=[nz－(nx+ny)/2]×d,其中nx、ny和nz分别是透明膜在x轴、y轴和z轴方向上的三维折射率,和d是透明膜的厚度。任选地,本发明的特征还在于,包括衬底和在衬底上的数据记录层和上述保护膜,其中光是从保护膜一侧入射的。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 记录 介质 保护膜 | ||
【主权项】：
1.光学记录介质保护膜，其特征在于它是由热塑性树脂制得的单层透明膜，具有120℃或以上的玻璃化转变温度和不大于1wt％的吸水率，和具有同时满足以下不等式(1)和(2)的在550nm波长处的延迟，｜R(550)|≤15nm(1)｜K(550)|≤40nm(2)其中R(550)是在550nm波长下透明膜的面内延迟和K(550)是在550nm波长下透明膜的由K＝[nz-(nx+ny)/2]×d计算的值，其中nx、ny和nz分别是该透明膜在x轴、y轴和z轴方向上的三维折射率，和d是透明膜的厚度。
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