[发明专利]提供连续运动顺序横向固化的方法和系统无效
申请号: | 01800540.3 | 申请日: | 2001-03-12 |
公开(公告)号: | CN1364310A | 公开(公告)日: | 2002-08-14 |
发明(设计)人: | J·S·安 | 申请(专利权)人: | 纽约市哥伦比亚大学托管会 |
主分类号: | H01L21/268 | 分类号: | H01L21/268 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 李家麟 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种对非晶硅薄膜样品进行加工以制造大晶粒并且晶粒边界受控的硅薄膜方法和系统。薄膜样品包括第一边缘和第二边缘。具体说来,采用该方法和系统,使用准分子激光器来提供脉冲激光束,并且屏蔽脉冲激光束以产生图案子光束,每一图案子光束具有足以使薄膜样品融化的强度。用图案子光束以第一恒定预定速度沿第一边缘和第二边缘之间的第一路径对薄膜样品进行连续扫描。此外,用图案子光束以第二恒定预定速度沿第一边缘和第二边缘之间的第二路径对薄膜样品进行连续扫描。 | ||
搜索关键词: | 提供 连续 运动 顺序 横向 固化 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种加工硅薄膜样品以制造晶化硅薄膜的方法,所述薄膜样品具有第一边缘和第二边缘,其特征在于,所述方法包括下列步骤:(a)控制激光束发生器以发射激光束;(b)屏蔽部分激光束以产生图案形式的子光束,每一图案形式的子光束照射到薄膜样品上,并具有足以融化薄膜样品的光强;(c)以第一恒定预定速度连续扫描薄膜样品,以致图案子光束的照射点在沿第一边缘和第二边缘之间的薄膜样品上的第一路径随图案子光束而移动;以及(d)以第二恒定预定速度连续扫描薄膜样品,以致图案子光束的照射点沿在第一边缘和第二边缘之间的薄膜样品上的第二路径上随图案子光束而移动。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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