[实用新型]一种测量真空紫外用荧光粉光学参数的装置无效

专利信息
申请号: 01254249.0 申请日: 2001-10-18
公开(公告)号: CN2505832Y 公开(公告)日: 2002-08-14
发明(设计)人: 牟同升;洪广言;王建平;王立昌 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01N21/62 分类号: G01N21/62;G01N21/63
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 代理人: 韩介梅
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型的真空紫外用荧光粉的光学参数测量装置包括带真空泵的真空箱,真空箱内设有和驱动装置联接的托架,托架上分布有若干个放荧光粉的样品盘,在驱动装置伸出真空箱端装有检测样品盘编号的编码装置,在真空箱上安装有至少一个向样品盘照射光的激发光源和至少一个接收样品发射光的光电测量仪。本实用新型由驱动装置驱动托架运转,使激发光源直接照射相应编号样品盘中的试样,利用光电测量仪,接收处于真空或惰性气体保护的荧光粉试样的发射光,可测得真空紫外荧光粉的光谱分布,相对亮度、色品坐标、色纯度、色温、峰值发射波长及辐射度、带宽等诸多光学参数。它结构简单、价格低,测量参数较全,精度高,信号强,使用方便。
搜索关键词: 一种 测量 真空 紫外 荧光粉 光学 参数 装置
【主权项】:
1.一种测量真空紫外用荧光粉光学参数的装置,其特征在于它包括带真空泵[10]的真空箱[5],真空箱内设有和驱动装置[8]联接的托架[7],托架[7]上分布有若干个放荧光粉的样品盘[6],在驱动装置伸出真空箱[5]端装有检测样品盘编号的编码装置[9],在真空箱上安装有至少一个向样品盘照射光的激发光源[1]和至少一个接收样品发射光的光电测量仪。
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