[发明专利]Si基Bi4Ti3O12铁电薄膜的制备方法无效
| 申请号: | 01138333.X | 申请日: | 2001-12-20 |
| 公开(公告)号: | CN1160806C | 公开(公告)日: | 2004-08-04 |
| 发明(设计)人: | 于军;王华;王耘波;周文利;谢基凡 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
| 主分类号: | H01L41/24 | 分类号: | H01L41/24 |
| 代理公司: | 华中科技大学专利中心 | 代理人: | 方放 |
| 地址: | 430074湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | 本发明公开的Si基Bi4Ti3O12铁电薄膜的制备方法,采用钛酸丁酯,冰醋酸,硝酸铋,乙酰丙酮配制Bi4Ti3O12溶胶,其配比为:(a)钛酸丁酯与硝酸铋的摩尔比为3.00∶4.20-4.40;(b)冰醋酸、乙酰丙酮和钛酸丁酯的体积百分比分别为10-80%∶10-80%∶10%;选用(100)晶向p型单晶Si基片作为衬底,将溶胶滴到衬底上,再进行匀胶,形成湿薄膜,再进行烘干处理后进行退火处理;重复进行匀胶、烘干处理和退火热处理,直至形成所需厚度的BIT铁电薄膜。本发明方法制备的铁电薄膜可用于存储器制作。该铁电薄膜在结构、铁电与介电等方面具有较好的综合性能。在具体实施方式部分将从几个方面对本发明的技术效果作具体分析。 | ||
| 搜索关键词: | si bi sub ti 12 薄膜 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种Si基Bi4Ti3O12铁电薄膜的制备方法,其特征在于:该方法包括依次进行的下述步骤:(1)选用电阻率<10Ω·cm、(100)晶向p型单晶Si基片作为衬底,并按照半导体平面工艺要求进行表面处理和清洗;(2)采用下述原材料配制Bi4Ti3O12溶胶:钛酸丁酯,冰醋酸,硝酸铋,乙酰丙酮,其配比为:(a)钛酸丁酯(C16H36O4Ti)与硝酸铋(Bi(NO3)3·5H2O)的摩尔比为3.00∶(4.20-4.40);(b)溶剂冰醋酸CH3COOH、乙酰丙酮CH3COCH2COCH3和钛酸丁酯(C16H36O4Ti)的体积百分比分别为10-80%∶10-80%∶10%。(3)配制好的Bi4Ti3O12溶胶滴到衬底上,再进行匀胶,制作湿膜;(4)匀好胶的湿膜进行烘干处理,去除湿膜中的碳、氢成分;(5)将烘干处理过的薄膜进行退火处理;(6)重复上述步骤(3)-(5),根据所需薄膜的厚度确定重复次数,直至获得所需厚度的薄膜;(7)对上述Si基Bi4Ti3O12铁电薄膜进行退火处理,形成Si基Bi4Ti3O12铁电薄膜。
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