[发明专利]伸长的线状缺陷的定位无效
| 申请号： | 01125205.7 | 申请日： | 2001-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN1337594A | 公开（公告）日： | 2002-02-27 |
| 发明（设计）人： | N·D·卡希尔;J·P·斯彭斯 | 申请（专利权）人： | 伊斯曼柯达公司 |
| 主分类号： | G03B17/24 | 分类号： | G03B17/24;G03B27/80;G03C1/005 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 吴增勇,陈景峻 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种查找照相材料上的线状缺陷的方法,所述材料具有有效的成像宽度和与所述材料纵向一致的缺陷,所述方法包括下列步骤将所述材料的一定区域曝光,以形成在所述缺陷的有效成像宽度上基本均匀的潜像;将潜像显影以产生密度信号;利用测光装置对密度信号取样;以及分析取样的密度数据,确定与所述材料纵向一致的显著离差的存在,以查找所述缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 伸长 线状 缺陷 定位 | ||
【主权项】：
1.一种具有有效成像宽度的照相材料，所述材料包括横跨所述材料的所述有效成像宽度且基本均匀的潜像，以用于查找与所述材料的纵向一致的线状缺陷。
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