[发明专利]影像信号处理装置及像素缺陷的检测方法无效

专利信息
申请号: 00133718.1 申请日: 2000-10-27
公开(公告)号: CN1164083C 公开(公告)日: 2004-08-25
发明(设计)人: 渡边透 申请(专利权)人: 三洋电机株式会社
主分类号: H04N5/14 分类号: H04N5/14
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 黄敏
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 影像信号处理装置及像素缺陷的检测方法,用以有效地检测出包含在影像信号中的缺陷像素。利用缺陷检测电路12将目标像素影像信号与其周边像素影像信号比较,检测出候选缺陷像素并将其地址数据存储在位置存储器13。依据位置存储器13存储的地址数据,缺陷判断电路14重复判断缺陷像素,从其判断结果的连续性决定缺陷像素地址数据后,将其存储在缺陷存储电路15。针对该缺陷像素的地址数据,缺陷修正电路16修正影像信号Y(n),产生影像信号Y′(n)。
搜索关键词: 影像 信号 处理 装置 像素 缺陷 检测 方法
【主权项】:
1.一种影像信号处理装置,在利用一影像信号而被显示出的画面上检测出一缺陷像素,该影像信号处理装置包括:一检测电路,依据相邻一目标像素的多个周边像素所对应的影像信号,设定出一判断基准值,并将该目标像素所对应的影像信号与该判断基准值做比较后,以检测出一候选缺陷像素;一判断电路,进行一缺陷判断动作,是依据从该检测电路所检测出的该候选缺陷像素,在跨过多个画面的连续性来判断出该缺陷像素;以及一存储器电路,用以存储该判断电路所判断的该缺陷像素的一地址,并依据对应该地址的该缺陷像素的该目标像素进行修正。
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