[发明专利]根据中子孔隙度测量结果导出钻孔直径无效

专利信息
申请号: 00104911.9 申请日: 2000-03-30
公开(公告)号: CN1270270A 公开(公告)日: 2000-10-18
发明(设计)人: M·L·埃万斯;D·L·贝斯特 申请(专利权)人: 施卢默格控股有限公司
主分类号: E21B47/08 分类号: E21B47/08;G01V5/10
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 曾祥凌,温大鹏
地址: 英属维*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 公开了钻入地层的钻孔直径的测量系统。此系统采用中子源和至少一中子探测器。探测器在由中子源辐照后主要响应钻孔与地层内物质的复合氢含量。采用分配响应函数来描述从此钻孔与地层获得的这部分探测器响应。由于得自钻孔的探测器响应能用分配函数孤立而一般可知钻孔液中的氢含量,若结合地层的中子孔隙度测量结果,就可由此合成的探测器响应的钻孔响应部分来测定钻孔直径。中子孔隙度测量可以独立地获得,或可以通过使此中子探测器响应与距此中子源在不同轴向间距处的第二中子探测器的响应相结合而获得。本系统可用于随钻测井和钢绳测井作业。
搜索关键词: 根据 中子 孔隙 测量 结果 导出 钻孔 直径
【主权项】:
1.用来测定钻入物质内的钻孔直径的方法,此方法包括:(a)于所述钻孔内设置探测器;(b)测量此探测器的表示所述钻孔内流体的氢指数的响应;与(c)将上述响应与所述物质的孔隙度测量结果相结合,以去求得此钻孔的直径。
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