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[发明专利]集成电路焊盘故障检测-CN202310638324.7在审
发明人： E•法尼;S•科恩;E•兰德曼;Y•大卫;I•温特罗布 -专利权人：普罗泰克斯公司
申请日： 2018-11-22 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01R31/54 文献下载
摘要：本申请题为“集成电路焊盘故障检测”。一种半导体集成电路(IC)，其包括时间数字转换器电路(TDC)，其中到TDC的时间输入是(i)到IC的焊盘的输入/输出(I/O)缓冲器的一个或多个输入，以及(ii)来自I/O缓冲器的一个或多个输出。该IC包括数字比较器电路，该数字比较器电路被电配置为：从TDC接收数字输出值的流，将该流的每个值与该流中的一个或多个在前值进行比较，以及当比较反映出差值大于阈值时，向IC的用户发布通知。
集成电路故障检测

[发明专利]集成电路裕度测量和故障预测设备-CN202310252063.5在审
发明人： E•兰德曼;S•科恩;Y•大卫;E•法尼;I•温特罗布 -专利权人：普罗泰克斯公司
申请日： 2018-11-15 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： G01R31/3193 文献下载
摘要：本申请题为“集成电路裕度测量和故障预测设备”。本申请公开一种半导体集成电路(IC)，其包括信号路径组合器，该信号路径组合器包括输出路径和多个输入路径。该IC包括延迟电路，该延迟电路具有的输入电连接到输出路径，该延迟电路将输入信号延迟可变延迟时间以输出延迟的信号路径。该IC可以包括电连接到输出路径的第一存储电路和电连接到延迟的信号路径的第二存储电路。该IC包括比较电路，该比较电路将信号路径组合器的输出与延迟的信号进行比较，其中该比较电路包括比较输出，该比较输出以比较数据信号的形式提供到至少一个缓解电路。
集成电路测量故障预测设备