专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于X射线衍射分析的方法和装置-CN200610078610.9有效
  • O·格拉斯曼;M·亨尼格;R·A·霍彻特拉瑟尔;U·施维特 - 弗·哈夫曼·拉罗切有限公司
  • 2006-04-26 - 2006-11-08 - G01N23/207
  • 本发明涉及用于X射线衍射分析的方法和装置。一种用于利用包括X射线辐射源和检测器的装置对样品进行透射模式X射线衍射分析的方法,该方法包括:(a)将待分析样品放置在基底上;(b)产生带形X射线射束,该射束的中心部分沿平面延伸;(c)将基底从而将样品定位在初始位置,其中所述样品位于射束的路径中,并且射束照射样品的薄片;(d)使基底相对于上述初始位置作如下运动:(d.1)使基底从而使样品绕转动轴线转动,该转动轴线垂直于基底,该转动覆盖预定的转动角,以及(d.2)使基底从而使样品绕倾斜轴线在倾斜角的范围内倾斜;以及(e)在使基底作上述运动的时段期间使用检测器检测透射穿过样品和被样品衍射的X射线辐射。
  • 用于射线衍射分析方法装置

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