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[发明专利]路径解析的光学采样架构-CN202310859953.2在审
发明人： M·A·阿伯雷;M·A·特雷尔;J·佩尔克 -专利权人：苹果公司
申请日： 2018-09-27 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： G01N21/49 文献下载
摘要：本文描述了光学采样架构及其操作方法。光学采样架构能够朝向发射区域发射发射片光束，以及从检测区域接收检测片光束。所述发射区域可具有相对于另一个维度是伸长的一个维度。所述检测区域也可具有相对于另一个维度伸长的一个维度，使得所述系统可选择性地接纳具有一个或多个特性(例如，入射角度、光束尺寸、光束形状等)的光。在一些示例中，所述检测区域的所述伸长维度可大于所述发射区域的所述伸长维度。在一些示例中，所述系统可包括输出耦合器阵列和相关联部件，以产生具有不同的平面内发射位置和/或平面内发射角度的光线的发射片光束。
路径解析光学采样架构

[发明专利]包括考虑样本内光学路径长度变化的光学检查系统和方法-CN202010795936.3在审
发明人： M·A·特雷尔;M·A·阿伯雷 -专利权人：苹果公司
申请日： 2015-12-22 - 公布日： 2020-11-13 - 主分类号： G01N21/49 文献下载
摘要：本申请涉及包括考虑样本内光学路径长度变化的光学检查系统和方法。照明器/收集器组件可将入射光递送到样本并且收集从样本返回的返回光。传感器可根据所收集的返回光的光线位置和光线角度来测量光线强度。光线选择器可从传感器处的所收集的返回光选择满足第一选择标准的第一子组光线。在一些示例中，该光线选择器可将光线强度聚合成箱，每个箱对应于所收集的返回光中的在样本内穿过相应光学路径长度范围内的估计光学路径长度的光线。表征器可基于第一子组光线的光线强度、光线位置和光线角度来确定样本的物理属性诸如吸收率。考虑在样本内穿过的光学路径长度的变化可改善准确性。
包括考虑样本光学路径长度变化检查系统方法

[发明专利]包括考虑样本内的光学路径长度的变化的光学检查系统和方法-CN201580065101.X有效
发明人： M·A·特雷尔;M·A·阿伯雷 -专利权人：苹果公司
申请日： 2015-12-22 - 公布日： 2020-08-07 - 主分类号： G01N21/49 文献下载
摘要：照明器/收集器组件(104)可将入射光(106)递送到样本(102)并且收集从样本(102)返回的返回光(112)。传感器(114)可根据所收集的返回光(112)的光线位置和光线角度来测量光线强度。光线选择器可从传感器(114)处的所收集的返回光(112)选择满足第一选择标准的第一子组光线。在一些示例中，该光线选择器可将光线强度聚合成箱，每个箱对应于所收集的返回光(112)中的在样本(102)内穿过相应光学路径长度范围内的估计光学路径长度的光线。表征器可基于第一子组光线的光线强度、光线位置和光线角度来确定样本(102)的物理属性诸如吸收率。考虑在样本内穿过的光学路径长度的变化可改善准确性。
包括考虑样本光学路径长度变化检查系统方法

[发明专利]路径解析的光学采样架构-CN201880063438.0在审
发明人： M·A·阿伯雷;M·A·特雷尔;J·佩尔克 -专利权人：苹果公司
申请日： 2018-09-27 - 公布日： 2020-05-15 - 主分类号： G01N21/49 文献下载
摘要：本文描述了光学采样架构及其操作方法。光学采样架构能够朝向发射区域发射发射片光束，以及从检测区域接收检测片光束。所述发射区域可具有相对于另一个维度是伸长的一个维度。所述检测区域也可具有相对于另一个维度伸长的一个维度，使得所述系统可选择性地接纳具有一个或多个特性(例如，入射角度、光束尺寸、光束形状等)的光。在一些示例中，所述检测区域的所述伸长维度可大于所述发射区域的所述伸长维度。在一些示例中，所述系统可包括输出耦合器阵列和相关联部件，以产生具有不同的平面内发射位置和/或平面内发射角度的光线的发射片光束。
路径解析光学采样架构