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[发明专利]具有可编程逻辑单元的集成电路-CN200980115674.3有效
发明人： C·D·比特勒斯顿;K·W·S·李;E·A·阿莫拉塞克拉;A·巴特拉;S·林加姆 -专利权人：德克萨斯仪器股份有限公司
申请日： 2009-05-01 - 公布日： 2011-04-13 - 主分类号： H03K19/173 文献下载
摘要：一种集成电路(IC)包括至少一个可再编程数字逻辑单元，所述可再编程数字逻辑单元包括具有多个晶体管的第一专用数字逻辑单元(120)，所述多个晶体管包括被配置为执行至少一种数字逻辑功能的至少一个PMOS晶体管(125)和至少一个NMOS晶体管(130)。所述第一专用数字逻辑单元包括多个节点，所述多个节点包括至少一个输入节点(131)和反映数字逻辑功能的性能的至少一个输出节点(132)。可编程调整电路包括至少一个调整输入和至少一个调整电路输出。提供了一种用于将该调整输入或调整电路输出耦合或去耦于所述第一专用数字逻辑单元的多个节点中的至少一个节点的电路，其中耦合或去耦可操作来改变该第一可再编程数字逻辑单元的处理速度。
具有可编程逻辑单元集成电路

[发明专利]可编程数字逻辑单元的本地校准-CN200980115675.8有效
发明人： A·巴特拉;S·林加姆;K·W·S·李;C·D·比特利斯顿;E·阿米拉斯库拉 -专利权人：德克萨斯仪器股份有限公司
申请日： 2009-05-01 - 公布日： 2011-04-13 - 主分类号： G11C16/34 文献下载
摘要：一种集成电路(IC)(420)包括自校准的可编程数字逻辑电路。该IC包括至少一个可编程数字逻辑单元(431A-431E)，其中该可编程数字逻辑单元提供(i)多个不同的可访问的电路配置或(ii)电压水平控制器。提供自校准系统(435)，其包括至少一个参考装置(430)、测量装置(441)，所述测量装置用于利用该参考装置测量可以影响该可编程数字逻辑单元(421A-431E)的处理速度的至少一个电气性能参数或可以影响所述电气性能参数的至少一个参数，以获得校准数据。处理装置(442)映射所述校准数据或从其导出的参数，以产生控制信号(446)，该控制信号可操作来从多个不同的可访问的电路配置或电压水平输出中进行选择，以改变所述可编程数字逻辑单元的处理速度。
可编程数字逻辑单元本地校准