专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]智能化行李管理-CN201710975939.3有效
  • G·W·波德纳尔;R·J·洛夫蒂斯;G·E·马托克斯;J·J·萨蒙;K·哈勒尔 - 波音公司
  • 2017-10-19 - 2023-04-11 - G06Q50/30
  • 本发明涉及智能化行李管理。提供了用于处理行李的系统和方法。一种示例性系统包括接口,其从登记系统接收指示行李件的大小和重量的输入,每一个输入与唯一标识符关联;和控制器,其选择一种输送、确定用于输送的行李件、使输送与服务于输送的交通工具的货舱尺寸关联、接收指示将行李装载至货舱内的装载限制的输入并且产生行李映射。行李映射基于用于输送的行李件的大小和重量、指示货舱内用于输送的每件行李的位置并且符合装载限制。所述系统进一步包括存储行李映射的存储器。
  • 智能化行李管理
  • [发明专利]表面检验系统及方法-CN201880009158.1有效
  • K·哈勒尔 - 科磊股份有限公司
  • 2018-01-26 - 2022-06-28 - H01L21/66
  • 本文中描述用于检测晶片表面上的颗粒缺陷,将所述颗粒转化为光谱活性状态,且通过光谱技术来识别所述经活化的颗粒的材料组成的方法及系统。颗粒缺陷是通过化学处理、热处理、光化学处理或其组合转化,使得经活化的颗粒展现可光谱观察的原子振动带。在一个实施例中,表面检验系统检测晶片表面上颗粒缺陷的存在,活化所述经检测的颗粒中的一或多者中的可观察拉曼带,且通过光谱技术来识别所述经活化的颗粒的所述材料组成。通过在相同检验工具上执行缺陷检测及组成分析两者,无需将晶片转移到不同重检工具或工具组合,以执行沉积在半导体晶片上的颗粒缺陷的组成分析。
  • 表面检验系统方法
  • [发明专利]用于光学表面缺陷材料特性化的方法及系统-CN202080048970.2在审
  • 许志伟;K·哈勒尔;J-K·龙;C·渥特斯 - 科磊股份有限公司
  • 2020-07-08 - 2022-02-25 - G01N21/95
  • 本文中描述用于基于来自样本的暗场散射相位而检测缺陷并对所述缺陷进行分类的方法及系统。在一些实施例中,通过用同一光学系统检测缺陷并对所述缺陷进行分类来增加吞吐量。在一个方面中,基于从集光光瞳中至少两个空间上相异的位置收集的经散射光的所测量相对相位而对缺陷进行分类。如果通过光瞳平面处任何两个空间上相异的位置透射的光之间存在相位差,那么依据干涉条纹在成像平面中的位置来确定所述相位差。所述所测量相位差指示所测量样本的材料组成。在另一方面中,一种检验系统包含经配置以在集光光瞳中不同可编程位置处对光瞳进行取样的可编程光瞳孔口装置。
  • 用于光学表面缺陷材料特性方法系统

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