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[发明专利]用于光学检测至少一个对象的检测器-CN201780039698.X在审
发明人： S·瓦鲁施;R·森德;I·布鲁德;N·安德马尔;A·沃格勒;J-M·阿斯福尔 -专利权人：特里纳米克斯股份有限公司
申请日： 2017-04-27 - 公布日： 2019-03-01 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：公开了一种用于光学检测至少一个对象(112)的检测器(110)。检测器(110)包括：‑至少一个纵向光学传感器(114)，其中纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(134)，其中纵向光学传感器(114)被设计为以取决于由光束对传感器区域(134)的照射的方式生成至少一个纵向传感器信号，其中给定相同的照射总功率，纵向传感器信号取决于传感器区域(134)中光束的束横截面；‑至少一个传送装置(128)，其中传送装置(128)响应于至少一个入射光束呈现至少两个不同的焦距，其中传送装置(128)适于取决于相应光束的波长，调节具有第一波长的至少一个第一光束(130)和具有与第一波长不同的第二波长的至少一个第二光束(132)的束横截面，使得在传感器区域中(134)中，第一光束(130)的束横截面不同于第二光束(132)的束横截面；以及‑至少一个评估装置(156)，其中评估装置(156)适于将纵向光学传感器(114)的纵向传感器信号区分为取决于由第一光束对传感器区域(134)的照射的第一纵向传感器信号和取决于由第二光束对传感器区域(134)的照射的第二纵向传感器信号，其中评估装置(156)被设计为通过评估第一纵向传感器信号和第二纵向传感器信号，生成关于对象(112)的纵向位置的至少一个信息项。
纵向传感器传感器区域光学传感器波长检测器传送装置评估装置照射光学检测入射光束纵向位置焦距信息项总功率响应评估

[发明专利]用于光学检测至少一个对象的检测器-CN201780039435.9在审
发明人： S·瓦鲁施;I·布鲁德;R·森德;N·安德马尔;A·沃格勒;J-M·阿斯福尔 -专利权人：特里纳米克斯股份有限公司
申请日： 2017-04-27 - 公布日： 2019-03-01 - 主分类号： G01S17/46 文献下载
摘要：公开了一种用于光学检测至少一个对象(112)的检测器(110)。检测器(110)包括：至少一个照射源(118)，其适于发射至少一个第一光束(120)和至少一个第二光束(122)，其中第一光束(120)具有第一张开角并且第二光束(122)具有第二张开角，其中第一张开角与第二张开角不同；至少一个纵向光学传感器(114)，其中纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(136)，其中纵向光学传感器(114)被设计为以取决于由光束对传感器区域(136)的照射的方式生成至少一个纵向传感器信号，其中给定相同的照射总功率，纵向传感器信号取决于传感器区域(136)中光束的束横截面；以及至少一个评估装置(164)，其中评估装置(164)适于将纵向光学传感器(114)的纵向传感器信号区分为取决于由第一光束(120)对传感器区域(136)的照射的第一纵向传感器信号和取决于由第二光束(122)对传感器区域(136)的照射的第二纵向传感器信号，其中评估装置(164)被设计为通过评估第一纵向传感器信号和第二纵向传感器信号生成关于对象(112)的纵向位置的至少一个信息项。
纵向传感器传感器区域光学传感器张开角检测器评估装置照射光学检测信号生成纵向位置信息项照射源总功率发射评估

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