专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]表面检查系统和表面检查方法-CN201780033485.6有效
  • M·理查德;F·皮劳德 - 鲍勃斯脱梅克斯股份有限公司
  • 2017-05-29 - 2021-09-03 - G01N21/57
  • 本发明涉及一种表面检查系统(10),用于检查出现在检查区域(20)的板材元件(4)的表面,该表面检查系统(10)包括图像评估单元(18)、相机(12)、暗场照明器(14)和明场照明器(16),该图像评估单元(18)适于把在暗场照明条件下获取的线图像减去在明场照明条件下获取的线图像。本发明还涉及一种识别正在移动通过板材元件加工机的板材元件(4)的高反射表面区域的方法,其中首先在明场照明条件下获取在观看区域(20)里的板材元件(4)的表面的线图像(l16),以及在暗场照明条件下获取在观看区域(20)里的板材元件(4)的相同表面的线图像(l14),然后比较两张线图像(l14,l16),例如彼此相减,如果两张线图像(l14,l16)之间的差异(Sn)高于预定阈值,则该板材元件(4)的表面被识别为反射表面。
  • 表面检查系统方法
  • [发明专利]表面检查系统和检查方法-CN201780033749.8在审
  • M·理查德;F·皮劳德 - 鲍勃斯脱梅克斯股份有限公司
  • 2017-05-29 - 2019-02-05 - G01N21/89
  • 本发明涉及一种表面检查系统(10),该表面检查系统(10)用于检查出现在检查区域(5)的板材元件(2)的表面,该表面检查系统(10)包括影像评估单元(18)、两个光源(12,14)和相机(16),其中两个光源(12,14)在照明平面(O11)的相对两侧,并且定向为照射该检查区域(5),该相机(16)适于沿观看平面(O16)获取检查区域(5)的线图像(l12,l14),该照明平面(O11)和观看平面(O16)分別设置在中间平面(M)的相对两侧,该中间平面(M)垂直于检查平面,该照明平面(O11)和中间平面(M)之间的角度(α)及观看平面(O16)和中间平面(M)之间的角度(α)相等。本发明还涉及使用上述的表面检查系统(10)检查板材元件(4)表面的方法,其中两个光源(12,14)的第一光源把光导向待检查的板材元件(4)的表面,该相机(16)获取检查区域(5)的线图像(l12;l14),然后两个光源(14,12)的第二光源把光导向待检查的板材元件(4)的表面,所述相机(16)获取检查区域(5)的线图像(l14;l12),其中影像评估单元(18)比较两张获取的线图像(l12;l14),具体地将两张线图像彼此相减。
  • 表面检查系统光源检查区域线图像板材元件中间平面照明平面相机检查相对两侧影像评估光导向观看相减相等照射垂直
  • [发明专利]基片表面的构形分析装置-CN201080030230.2有效
  • F·皮劳德;M·理查德;B·罗塞 - 鲍勃斯脱股份有限公司
  • 2010-07-16 - 2012-05-23 - B31B1/74
  • 本发明涉及基片(1)表面(2)的构形分析装置,所述基片以X轴的大致上平面轨迹运行,其中X轴限定与Y轴和Z轴的标准正交参照空间,在所述空间中,表面(2)大致上与XY平面平行,所述装置包括所述表面(2)的结构光照装置(10),所述结构光照装置(10)适于与测量由所述表面(2)反向散射光的装置(20)结合,以便在所述基片(1)运行的过程中分析所述表面(2)的构形,所述结构光照装置(10)能够以入射角‘a’将光束(F)射到表面(2)上,以致在表面上形成“n”条发光条纹(S1、S2…Sn),每一发光条纹与X轴形成角‘b’,其中测量装置(20)包括位于与XY平面和SZ平面正割的平面P中的线性摄像机,所述平面P与XY平面的交叉点与Y轴形成角‘c’,所述平面P与XZ平面的交叉点与Z轴形成角‘e’,其中角‘a’在30°和70°之间,角‘b’在-45°和+45°之间,角‘c’在-30°和+30°之间,角‘e’在-45°和+45°之间。
  • 表面构形分析装置
  • [发明专利]用于检测基片上的图案的方法和装置-CN200510070150.0无效
  • F·皮劳德;P·塞凡特 - 鲍勃斯脱股份有限公司
  • 2005-04-30 - 2005-11-09 - G01B11/00
  • 一种用于检测在行进的基片(2)(亦即在沉积在薄片或卷材材料上的基片)上的图案的装置(1),所述基片是沿着一行进方向(20)行进的金属化箔片。所述装置在一壳体(3)内包括:从一第一光源(4)发出的一第一入射光束(11),从一第二光源(5)发出的一第二入射光束(12),一光学测量系统(10),分别传送由基片(2)反射的反射光束(R1,R2)的一光敏传感器(13),以及连接至一通讯口(16)的一电子装置(14)。光学测量系统(10)是焦阑的,并且第一入射光束(11)横穿一焦阑的照明系统(15),第二入射光束(12)横穿一倾斜的照明系统(25)。
  • 用于检测基片上图案方法装置

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