专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]使用流探针的菌斑检测-CN201380067082.5在审
  • E·M·范古尔;J·H·M·斯普瑞特;M·T·约翰森;M·W·J·普林斯;O·奥宇维尔特杰斯;S·C·迪恩 - 皇家飞利浦有限公司
  • 2013-12-20 - 2015-08-26 - A61B5/00
  • 一种装置(100,100')被配置成使得,穿过远端探针尖端(112,112')的开放端口(136,2604)的流体(30)的通过,使基于与至少部分阻碍穿过所述开放端口(136,2604)的流体(30)的通过的物质相关的信号测量,能够检测可能存在于表面(31,33),例如牙齿表面上的物质(116)。该装置(100,100')包括近端泵部(124)和被配置成浸入另一流体(11),例如在牙膏泡沫的水中的至少一个远端探针部(110)。相应的系统(3000)包括一个或两个这样的装置(3100,3200)。检测在表面上物质的存在的方法包括探测相互作用区域(17),其用于穿过所述远端探针尖端(112,112')的流体(30)的流动的至少部分阻塞。所述远端探针尖端(112,112')可以具有用于防止所述开放端口(136,2604)的阻塞的结构配置。所述远端探针尖端(112,112')也可具有非均匀磨损轮廓。所述至少一个远端探针部(110)可以包括两个或多个组件,以提高性能和可靠性。
  • 使用探针检测
  • [发明专利]使用流探针的菌斑检测-CN201380067115.6在审
  • J·H·M·斯普瑞特;M·T·约翰森;M·W·J·普林斯;O·奥宇维尔特杰斯;S·C·迪恩;E·M·范古尔 - 皇家飞利浦有限公司
  • 2013-12-20 - 2015-08-26 - A61B5/00
  • 设备(100,100’)被配置成使得流体(30)的经过远侧探针顶部(112,112’)的开口端口(136,2604)的通过使能够基于与至少部分地阻碍流体(30)经过开口端口(136,2604)通过的物质相关联的信号的测量来进行可能存在于表面(31,33)例如牙齿表面上的物质(116)的检测。设备(100,100’)包括近侧泵部(124)和被配置成浸没在另一流体(11)例如牙膏泡沫中的水内的至少一个远侧探针部(110)。相应的系统(3000)包括一个或两个这样的设备(3100,3200)。检测表面上的物质的存在的方法包括探测对于流体(30)的经过远侧探针顶部(112,112’)的流动的至少部分阻塞的相互作用区(17)。远侧探针顶部(112,112’)可以具有用于防止开口端口(136,2604)的阻塞的结构性配置。远侧探针顶部(112,112’)也可以具有不均匀磨损轮廓。至少一个远侧探针部(110)可以包括两个或多个组成部件以提高性能和可靠性。
  • 使用探针检测
  • [发明专利]使用流探针的菌斑检测-CN201380066891.4在审
  • J·H·M·斯普瑞特;O·奥宇维尔特杰斯;M·T·约翰森;M·W·J·普林斯;E·M·范古尔 - 皇家飞利浦有限公司
  • 2013-12-20 - 2015-08-26 - A61B5/00
  • 一种装置(100,100')被配置成使得通过远端探针尖端(112,112')的开口端口(136,2604)的流体(30)通道,能够基于与至少部分阻塞通过所述开口端口(136,2604)的流体(30)通道的物质相关的信号测量,进行可能存在于表面(31,33),例如牙齿表面上的物质(116)检测。该装置(100,100')包括近端泵部(124)和被配置成浸入另一流体(11),例如在牙膏泡沫的水中的至少一个远端探针部(110)。相应的系统(3000)包括一个或两个这样的装置(3100,3200)。检测在表面上的物质存在的方法包括探测相互作用区域(17)其用于通过所述远端探针尖端(112,112')的流体(30)流动的至少部分阻塞。所述远端探针尖端(112,112')可以具有用于防止所述开口端口(136,2604)的阻塞的结构配置。所述远端探针尖端(112,112')也可具有非均匀磨损轮廓。所述至少一个远端探针部(110)可以包括两个或多个组件,以提高性能和可靠性。
  • 使用探针检测
  • [发明专利]光学记录设备以及操作光学记录设备的方法-CN200680045128.3无效
  • E·M·范古尔;G·莫尔 - 皇家飞利浦电子股份有限公司
  • 2006-11-27 - 2008-12-10 - G11B7/09
  • 在光学记录设备的写入操作期间,写入光点在光学记录载体上的位置对于所记录的数据质量来说是非常重要的。可以借助于寻轨光点来促进对所述写入光点的径向定位,来自所述寻轨光点的信号标识出所述写入光点的位置。来自所述寻轨光点的信号可能受到其附近的光学记录载体特性的影响。具体来说,与每一个光点相邻的轨道的已记录或未记录属性会造成影响。本发明包括旋转用来生成寻轨光点的装置,从而可以把所述寻轨光点定位在用于进行记录的最优位置处,而不管将要记录光学记录载体上的哪一个数据层或者记录方向如何。
  • 光学记录设备以及操作方法

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