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[发明专利]质谱仪的质量校准-CN202010079357.9有效
发明人： A·詹纳考普洛斯 -专利权人：塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2020-02-05 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： H01J49/00 文献下载
摘要：公开一种校准质谱仪10的方法以及用于所述质谱仪10的控制器200。所述质谱仪10包含生成样本离子的第一离子源20、生成外部校准物离子的第二离子源50以及质量分析器100。执行初步质量校准。在样本分析的时间段t之后，将外部校准物离子与所述样本离子分别引入到所述质谱仪10中。获得表示所述外部校准物离子的质荷比的数据。将所述外部校准物离子数据与参考外部校准物离子数据相比较以获得表示质量差的偏移值。如果此偏移低于阈值，则使用新的外部校准物离子数据修改所述初步校准。如果所述偏移高于阈值，则执行全面重新校准。
质谱仪质量校准

[发明专利]不同气压下离子光学装置之间的离子传输-CN202211249119.3在审
发明人： H·斯图尔特;D·格林菲尔德;C·霍克;A·詹纳考普洛斯;A·瓦格纳;A·霍洛弥夫;M·比尔;A·马卡洛夫 -专利权人：塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2022-10-11 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： H01J49/06 文献下载
摘要：一种质谱仪包括：在相对低气压区域中的第一离子光学装置；在相对高气压区域中的第二离子光学装置，所述第一和第二离子光学装置从相应的RF电源接收相应的RF电压以用于产生将离子限制在所述离子光学装置的相应捕获区域中的相应的RF场；以及气体传导限制件，其限制气体从所述相对高气压区域流向所述相对低气压区域，所述气体传导限制件具有允许离子从所述第二离子光学装置传递到所述第一离子光学装置的孔。所述第一和第二RF电源是独立的，以允许用于产生所述第一RF场的所述RF电压具有与用于产生所述第二RF场的所述RF电压不同的幅度。
同气压下离子光学装置之间传输

[发明专利]涉及飞行时间质量分析器的改进-CN202210729265.X在审
发明人： C·霍克;A·瓦格纳;H·斯图尔特;D·格林菲尔德;A·詹纳考普洛斯;W·布拉舒恩;A·马卡洛夫 -专利权人：塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2022-06-24 - 公布日： 2022-12-27 - 主分类号： H01J49/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种组合件，所述组合件包含真空室和飞行时间质谱仪，其中所述飞行时间质谱仪被容纳在所述真空室内。所述飞行时间质谱仪包含第一电极和第二电极，所述第二电极与所述第一电极间隔开在其间限定离子飞行路径的一部分的距离。所述组合件还包含用于支撑所述第一电极的第一支撑件，所述第一支撑件被布置在所述真空室的内表面与所述第一电极之间。所述第一支撑件被配置成允许所述真空室的所述内表面的至少一部分与所述第一电极之间的相对移动。所述真空室的所述内表面和所述第一电极热耦合。本发明还涉及一种多反射飞行时间质量分析器。本发明还涉及一种用于通过加热并且随后冷却真空室内的表面进行脱气以从所述表面除去污染物的设备。
涉及飞行时间质量分析器改进

[发明专利]用于确定MS扫描数据中的干扰、过滤离子并对样品进行质谱分析的方法和装置-CN202110551806.X在审
发明人： C·托因格;A·詹纳考普洛斯 -专利权人：塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2021-05-20 - 公布日： 2021-12-03 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：提供一种确定对应于MS扫描数据中的前体分子的同位素分布的特定峰的一个或多个干扰参数的方法。所述MS扫描数据包含多个峰。每个峰具有质荷比和相对丰度。所述同位素分布包含多个峰的子集。所述一个或多个干扰参数包含所述特定峰的峰纯度pi。所述方法包含确定不存在与所述同位素分布有关的干扰峰，并且确定所述特定峰的峰纯度pi应为最大纯度值。或者，所述方法包含鉴别来自所述MS扫描数据的一个或多个干扰峰，其中所述一个或多个干扰峰不属于所述同位素分布的峰的子集，并且基于以下各者确定所述特定峰的峰纯度pi：所述特定峰的相对丰度Ii，和所述一个或多个干扰峰的相对丰度。
用于确定 ms 扫描数据中的干扰过滤离子样品进行谱分析方法装置

[发明专利]混合质谱仪-CN201810562514.4有效
发明人： A·马卡洛夫;C·A·霍克;H·斯图尔特;N·E·戴莫克;A·詹纳考普洛斯 -专利权人：塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2018-06-04 - 公布日： 2020-06-16 - 主分类号： H01J49/00 文献下载
摘要：一种用于分析受关注质量范围内的样本的质谱法数据独立获取方法。所述方法在基于样本在其从色谱法系统洗脱时的色谱峰宽度的时间段内执行。所述方法包括以下步骤：电离所述样本以产生多个前体离子；选择待分析的受关注质量范围内的前体离子；执行所述前体离子的至少一个MS1扫描；以及执行一组MS2扫描。执行MS1扫描包括使用傅里叶变换质量分析器跨越所述受关注质量范围对前体离子进行质量分析以鉴定和/或量化MS1域中的所述前体离子。执行所述一组MS2扫描包括：将所述前体离子分为多个前体质量段，每个前体质量段具有不超过5amu的质量范围，且对于每个前体质量段，使所述前体质量段内的所述前体离子碎片化以及执行碎片化离子的MS2扫描。
混合质谱仪

[发明专利]时间间隔测量-CN201610304365.2有效
发明人： M·别尔;R·赫明;A·詹纳考普洛斯 -专利权人：塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2016-05-10 - 公布日： 2019-10-18 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本发明提供一种用于时间间隔测量的技术。接收、取样和数字化第一信号分量和第二信号分量。所述第一信号分量源自引起或指示所述第二信号分量的产生的触发信号。基于由所述所取样和数字化第一信号分量界定的参考时间以及基于由所述所取样和数字化第二信号分量界定的参考时间来确定所述第一信号分量与所述第二信号分量之间的时间间隔。
时间间隔测量

[发明专利]用于识别样品的方法和设备-CN201280033278.8有效
发明人： A·詹纳考普洛斯 -专利权人：塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2012-06-19 - 公布日： 2018-02-13 - 主分类号： H01J49/00 文献下载
摘要：披露了一种多反射飞行时间（MRTOF）质谱仪（12）以及用于识别样品的方法。在一个离子源（15）处产生样品离子。该MRTOF是在一个反射轴（XX′）上具有相对的第一和第二离子镜（20，20′）的一个闭合镜安排。该MRTOF（12）还包括在该轴（XX′）上的一个双向离子偏转器（50）。该偏转器（50）在时间t0时将离子作为一个短脉冲偏转到该反射轴上，在其中它们振荡多次，根据离子m/z在飞行时间中进行分离。在一个稍后的时间t，将以沿该轴（XX′）在两个方向上行进的离子通过该双向偏转器（50）喷射出该MRTOF（12）至一个离子检测器安排（55）。飞行时间中的离子分离允许由该检测器安排（55）产生一个生物样品的“指纹”，而无需给每个峰指定一个质量。与一个指纹的库的比较允许进行识别。
用于识别样品方法设备

[发明专利]检测带电粒子的检测装置、检测带电粒子的方法以及质谱仪-CN201080049080.X有效
发明人： A·马卡洛夫;A·詹纳考普洛斯 -专利权人：塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2010-10-18 - 公布日： 2012-11-14 - 主分类号： H01J49/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于检测带电粒子的检测装置，该检测装置包括：一个带电粒子检测器，用于接收并检测进入的带电粒子或由这些进入的带电粒子产生的次级带电粒子；一个光子产生器，用于响应于接收到与该带电粒子检测器所接收并检测的相同的、这些进入的带电粒子或由这些进入的带电粒子产生的次级带电粒子中的至少一些而产生光子；以及一个光子检测器，用于检测该光子产生器所产生的光子。还提供了包括该检测装置的一种质谱仪、该检测装置在TOF质谱法中的用途以及改进一种TOF质谱仪的动态检测范围的方法。
检测带电粒子装置方法以及质谱仪

[发明专利]检测带电粒子的检测装置、检测带电粒子的方法以及质谱仪-CN201080049069.3有效
发明人： A·马卡洛夫;A·詹纳考普洛斯 -专利权人：塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2010-10-18 - 公布日： 2012-09-12 - 主分类号： H01J49/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于检测带电粒子的检测装置，该检测装置包括：一个次级粒子产生器，用于响应于接收到进入的带电粒子而产生次级带电粒子；一个带电粒子检测器，用于接收并检测该次级粒子产生器所产生的次级带电粒子；一个光子产生器，用于响应于接收到该次级粒子产生器所产生的次级带电粒子而产生光子；以及一个光子检测器，用于检测该光子产生器所产生的光子。还提供了包括该检测装置的一种质谱仪、该检测装置在TOF质谱法中的用途以及改进一种TOF质谱仪的动态检测范围的方法。
检测带电粒子装置方法以及质谱仪

[发明专利]操作多次反射离子阱的方法-CN200780041973.8有效
发明人： A·马卡洛夫;A·詹纳考普洛斯 -专利权人：塞莫费雪科学（不来梅）有限公司
申请日： 2007-11-14 - 公布日： 2009-12-23 - 主分类号： H01J49/42 文献下载
摘要：本发明涉及一种操作带电粒子阱的方法，离子在该带电粒子阱中经历多次往复反射和/或沿通常在一组电极周围的封闭轨道行进。本发明通过根据参考离子阱内的离子振荡周期计算出的时序方案将离子偏转到离子阱之外来允许对多离子种类的高性能分离以供后续检测或碎裂。
操作多次反射离子方法

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