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- [发明专利]一种指纹芯片抗干扰测试装置-CN202310067254.4有效
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刘增红;常浩
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镇江矽佳测试技术有限公司
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2023-02-06
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2023-04-28
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G01R31/28
- 本发明涉及测试设备技术领域，具体的公开了一种指纹芯片抗干扰测试装置，包括底盘、指纹芯片测试机、指纹芯片和测试电路板。本发明中第二电动滑块在螺旋导轨上沿螺旋导轨的开设轨迹进行螺旋运动，第二电动滑块在螺旋轨道上进行运动时，可通过调整第二电动滑块的行进速度，可使得第二电动滑块在螺旋导轨上进行时快时慢的叫错行进速度，进而使得第二电动滑块侧面第二滑杆上的滑套在第二滑杆上频繁发生横向滑动，进而对滑套的横向位置进行调整，并且滑套在第二滑杆上频繁滑动压缩第二弹簧，滑套在第二弹簧的弹性复位力的作用下增加在第二滑杆上横向滑动的幅度，进而更好的使得滑套外壁安装的电磁脉冲干扰器更好的调整其干扰位置。
- 一种指纹芯片抗干扰测试装置
- [发明专利]一种多通道多功能的芯片测试机及测试方法-CN202211489233.3在审
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常浩;刘增红
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镇江矽佳测试技术有限公司
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2022-11-25
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2023-04-07
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G01R31/28
- 本发明公开了一种多通道多功能的芯片测试机及测试方法，测试机包括：上位机和芯片测试机；上位机设置控制参数并发送至芯片测试机及显示测试结果；芯片测试机包括：通信板、背板、多个测试板卡、多个面板、转接板及芯片承载板；通信板接收上位机发送的控制参数并通过背板传给测试板卡，及接收转接板的测试结果并传给上位机；每个测试板卡均包括：主控芯片及多通道多功能测试资源，主控芯片基于控制参数，用于控制多通道多功能测试资源选择、控制待测芯片多功能测试，及协调其他板卡工作；通过面板将全部测试资源连接至转接板，对接入的待测芯片进行相应功能测试。本发明能同时测量多个芯片且对每个芯片实现多功能测试，测试效率高，功能全面。
- 一种通道多功能芯片测试方法
- [发明专利]一种自动标记坏点的芯片测试机-CN202211680759.X有效
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刘增红;常浩
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镇江矽佳测试技术有限公司
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2022-12-27
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2023-03-14
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B07C5/344
- 本发明涉及芯片测试机领域，具体的公开了一种自动标记坏点的芯片测试机，包括底座，所述底座的顶部滑动安装有安装板，底座的顶部安装有限位板，底座的顶部两端均滑动安装有与限位板相匹配的夹持板，夹持板与限位板之间安装有放置盘，放置盘的内底部开设有固定孔，放置盘的内底部位于固定孔的两侧均开设有若干个放置孔，放置孔的内壁上转动安装有放置板，放置板的底部靠近固定孔的一端安装有磁铁片，安装板靠近限位板的一侧底部安装有支撑板，支撑板的顶部安装有固定板，固定板的顶部安装有与磁铁片相匹配的电磁铁。本发明在使用时无需工作人员手动对出现坏点的芯片进行分拣拿取，使用时更加方便。
- 一种自动标记芯片测试
- [发明专利]一种自动化芯片测试装置-CN202211638357.3在审
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常浩;刘增红
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镇江矽佳测试技术有限公司
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2022-12-20
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2023-01-17
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B07C5/344
- 本发明提供了一种自动化芯片测试装置，涉及芯片生产技术领域，包括步进输送带和安装座，所述安装座设在步进输送带一侧的前端位置处，且安装座的一侧设有托架，所述托架的内侧设有下料槽，且下料槽朝向步进输送带上表面，所述安装座顶部的边缘处转动设有转筒，且转筒设有三组；所述转筒外侧的下方设有支撑边；本发明通过步进输送带步进输送芯片，以方便后续的检测，在上料时，通过支撑边来支撑芯片垛，随着转筒的移动，当旋转到缺口时，一个芯片掉落至下方的步进输送带上，随后倾斜边立即支撑住下一个芯片，直到再次旋转到缺口落下下一个芯片，以此达到自动化一个个下料的功能，无需人工放置，也无需吸盘吸附或者夹持，上料更加稳定。
- 一种自动化芯片测试装置
- [实用新型]一种半导体晶片探针测试设备-CN202021751083.5有效
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常浩
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镇江矽佳测试技术有限公司
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2020-08-20
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2021-05-25
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G01R31/28
- 本实用新型公开了一种半导体晶片探针测试设备，包括底座，所述底座上端安装有升降结构,所述底座上端安装有夹紧检测结构；其中，升降结构包含有：动力室、液压泵、液压杆、辅助滑道、第一滑块、升降台、电动滑道、第二滑块、电动推杆以及探针，本实用新型涉及半导体检测技术领域，本案的有益效果为：解决了现有设备中由于产品的待测试点距离测试设备的高度不一，所以要准备不同长度的探针以满足不同的测试要求，并且放置板的高度固定，不能根据需求进行调整，适应能力较差；而且在测试过程中需要进行固定，人工固定比较麻烦，会带来较大的不便，而且过程比较繁琐，具有不利于长期的高效的进行使用等问题。
- 一种半导体晶片探针测试设备
- [实用新型]一种集成电路测试用多功能测试台-CN202021758402.5有效
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刘增红
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镇江矽佳测试技术有限公司
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2020-08-21
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2021-05-25
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G01R31/28
- 本实用新型公开了一种集成电路测试用多功能测试台，包括底座，所述底座上设有收缩测试结构；所述收缩测试结构包括：收缩箱体、剪叉升降台、四个滑轨、测试箱体、测试组件、箱体盖、铰座以及支撑腿，本实用新型涉及集成电路测试技术领域，本案采用的收缩测试结构，通过内置的剪叉升降台可实现对测试箱体的高度调节的目的，且在不进行测试时，还具有收纳功能，减少占用空间，通过内置的测试组件，可将测试板以及测试插孔收纳进测试箱体内，在不使用时可有效地保护测试插孔不受到破坏，从而有效的解决了现有的测试台不具有高度调节功能，对于身高不同的测试人员来说，使用也不方便，影响使用效率的技术问题。
- 一种集成电路测试多功能
- [实用新型]一种具有防护功能的芯片检测设备-CN202021775613.X有效
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刘增红
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镇江矽佳测试技术有限公司
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2020-08-24
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2021-05-25
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G01R31/28
- 本实用新型公开了一种具有防护功能的芯片检测设备，包括检测箱体,所述检测箱体上设有芯片检测存放保护结构；所述芯片检测存放保护结构包括：检测面板、废料存放室、废料投掷孔、两个导电块、滑杆、滑动块以及存放保护组件，本实用新型涉及芯片检测设备技术领域，本案采用的芯片检测存放保护结构，将需要进行检测的芯片通通放置在存放保护组件内，当对芯片进行检测时，再将芯片分批次的取出，有效的解决了传统的芯片检测装置对于未检测的芯片不具有保护功能，当检测装置因受外力影响而发生晃动时，未检测的芯片之间易发生混乱甚至芯片之间的碰撞，影响芯片的检测结果以及会对芯片本身造成损坏的技术问题。
- 一种具有防护功能芯片检测设备
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