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专利名称

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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]激光雷达装置、驾驶辅助系统以及车辆-CN201980009980.2有效
发明人： 铃木俊平 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2019-01-23 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01S7/481 文献下载
摘要：扫描部(20)具有反射从投光部(10)入射的光的多个反射面，通过使反射面相对于预先设定的旋转轴旋转，从而使从投光部入射的光的出射方向沿着与旋转轴的轴向正交的主扫描方向变化。扫描部反射来自存在于反射被扫描的光的扫描的范围内的被检物的反射光，并将被反射的反射光引导至受光部(30)。此外，扫描部具有的多个反射面均与旋转轴的轴向平行地配置。另外，投光部具有的多个光源(11、12)被配置为从每个光源输出的光束的光轴的至少一个相对于基准面倾斜，该基准面是垂直于旋转轴的面。
激光雷达装置驾驶辅助系统以及车辆

[发明专利]激光雷达装置-CN201980011252.5有效
发明人：远山浩平;铃木俊平 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2019-01-29 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01S7/481 文献下载
摘要：本发明提供一种激光雷达装置，其中，分隔板(44)由阻止光的透过的材料构成，将壳体(100)的内部空间分隔成设置有投光部(10)的投光用空间和设置有受光部(30)的受光用空间。遮光板(22)由阻止光的透过的材料构成，设置于用于投光的偏转镜的部位亦即投光偏转部与用于受光的偏转镜的部位亦即受光偏转部之间，与偏转镜一体地旋转。另外，分隔板在遮光板的周缘部的至少一部分具有分隔板的板面和遮光板的板面相互非接触且重合的重叠部(60)。
激光雷达装置

[发明专利]激光雷达装置-CN201980009541.1有效
发明人：铃木秀昌;铃木俊平 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2019-01-23 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G01S7/481 文献下载
摘要：光检测模块(2)投光沿着扫描方向扫描的光束，并且接受从扫描范围射入的光。光检测模块配置为扫描的中心亦即扫描中心与沿着扫描方向的光学窗(200)的中心亦即窗中心在扫描方向上的位置互不相同。光学窗以面对壳体的外侧的外侧面和面对壳体的内侧的内侧面中的至少一者作为对象面，沿着扫描面的对象面的断面形状具有相对于窗中心不对称的形状，上述扫描面包括从光检测模块投光的光束的扫描方向和投光方向。
激光雷达装置

[发明专利]测距装置-CN202180019581.1在审
发明人： 铃木俊平;加户贵洋 -专利权人：索尼半导体解决方案公司
申请日： 2021-04-19 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G01S7/481 文献下载
摘要：本发明的目的是在满足激光的安全标准的同时增加可检测距离。本发明的测距装置包括：以二维方式发射光的光投射单元；包括在二维方向上配置的多个光接收元件的光接收单元；以及控制是否由所述多个光接收元件执行光接收的控制单元。所述光投射单元包括多个光源单元，并且所述多个光源单元包括每单位时间的发射次数彼此不同的两个以上的光源单元。
测距装置

[发明专利]微芯片和微芯片型细微粒测量装置-CN201280063605.4在审
发明人：濑尾胜弘;月原浩一;冈本好喜;铃木俊平 -专利权人：索尼公司
申请日： 2012-10-25 - 公布日： 2014-08-20 - 主分类号： G01N15/14 文献下载
摘要：本发明提供了一种微芯片。该微芯片包括：入射面，该入射面被配置为接收从光源传输的光，从入射方向接收光；以及背面，该背面与入射面相对，该背面包括被配置为将从光源传输的光反射远离入射方向的部分。
芯片细微测量装置

[发明专利]微小颗粒测定装置和光轴校准方法-CN201110236910.6有效
发明人：堂胁优;今西慎吾;桥本学治;铃木俊平 -专利权人：索尼公司
申请日： 2011-08-17 - 公布日： 2012-04-04 - 主分类号： G01N15/00 文献下载
摘要：本发明公开了微小颗粒测定装置和光轴校准方法，该微小颗粒测定装置，包括：光会聚单元，用于将照射到微小粒子所穿过的样本流的、直线传播而无散射的照射光以及被微小粒子散射的散射光会聚到被分割为多个区域的光接收器；位置控制器，用于控制构成光路的部件的相对位置；以及控制单元，用于基于光接收器的每个区域的信号强度来检测照射光和散射光的会聚光斑的位置，并且控制位置控制器，以使得照射光的会聚光斑位置和散射光的会聚光斑位置彼此一致。
微小颗粒测定装置光轴校准方法

[发明专利]光学测量装置和光学测量方法-CN201110051749.5有效
发明人： 铃木俊平;今西慎吾;桥本学治;堂胁优 -专利权人：索尼公司
申请日： 2011-03-03 - 公布日： 2011-09-21 - 主分类号： G01N15/14 文献下载
摘要：本发明公开了光学测量装置和光学测量方法。一种光学测量装置，包括：光施加部，被配置为向通道中流动的样本施加激发光；以及散射光检测部，被配置为在激发光的传播方向上，在样本的下游侧，检测从被激发光照射的样本生成的散射光，所述散射光检测部包括：散射光分离掩模，用于将散射光分离成数值孔径不大于特定值的低数值孔径分量和数值孔径大于特定值的高数值孔径分量；第一检测器，用于检测低数值孔径分量；以及第二检测器，用于检测高数值孔径分量。
光学测量装置测量方法

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