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[发明专利]一种IC老化测试板-CN202310145750.7在审
发明人：王少花;钟清水 -专利权人：优普士电子（深圳）有限公司
申请日： 2023-02-15 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种IC老化测试板，通过子母座结构将待测IC连接至IC老化测试板上，其中母座分布在老化测试板上，子座可插拔，若干电源模块，与母座电连接，每个电源模块负责给一组待测IC供电，并单独控制每个待测IC的电源；若干辅控制器，与母座电连接，每个辅控制器连接一组待测IC，并对检测到的IC参数信号进行处理；主控制器，连接所述若干辅控制器，用于对所述若干辅控制器发送的信息进行分析汇总后发送给人机操作台；通过主控加若干辅控的方式实现老化测试板的控制，提高了老化测试板的信息处理效率，优化了IC老化测试板的性能。
一种 ic 老化测试

[发明专利]IC老化测试方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202310140826.7在审
发明人： 钟清水;王少花 -专利权人：优普士电子（深圳）有限公司
申请日： 2023-02-15 - 公布日： 2023-04-21 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种IC老化测试方法、装置、计算机设备和存储介质，包括建立和IC老化测试板以及老化测试炉的信号通信连接，所述IC老化测试板上的每个IC测试单元为单独控制，显示所述IC老化测试板的测试控制界面，所述测试控制界面包括启停控制功能、参数设定功能、遮罩功能、测试结果显示功能和状态信息显示功能，根据所述控制界面上的功能控制所述IC老化测试板的老化测试过程；建立控制终端或PC端与IC老化测试板以及老化测试炉之间的信号通信连接，通过功能齐全的人机交互界面对IC老化测试过程进行控制，可以提高IC老化测试的智能性和准确度。
ic 老化测试方法装置计算机设备存储介质