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[发明专利]利用半成品方式的二段式光学对象成形-CN201210029689.1有效
发明人：丹尼斯·J·加拉格尔;里吉斯·S·凡 -专利权人：全视技术有限公司
申请日： 2012-02-08 - 公布日： 2012-08-15 - 主分类号： G02B3/00 文献下载
摘要：本发明提供一种透镜，例如是应用于晶圆级摄影机的透镜，其利用高分子材料及至少一个模具形成半成品透镜，其构成透镜的最终体积的主体，其中，半成品透镜可以被硬化，且在其硬化过程中，可以产生凹陷或收缩。然后，将另一高分子材料加入透镜中，并利用相同的模具配合隔板，或利用第二模具，以形成第一表面层，其用以将半成品透镜的形状修饰成预期最终透镜形状。在实施例中，第一表面层的折射率近似或等同于半成品透镜的折射率；在实施例中，透镜形成于基板上；在实施例中，利用送模(send master)或模具对以形成具有上曲率及下曲率的透镜，其利用第二高分子材料在透镜与第一表面层相对的表面上形成第二表面层。
利用半成品方式二段式光学对象成形

[发明专利]饱和光学器件-CN200780018200.8有效
发明人： 里吉斯·S·凡;爱德华·R·道斯基;肯尼思·S·库贝拉 -专利权人：全视CDM光学有限公司
申请日： 2007-05-23 - 公布日： 2009-06-03 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：一种成像系统，其包括用于接收电磁能量并根据所接收的电磁能量生成抽样数据的探测器。该探测器由阈值点表征，使得该抽样数据处于如下两种状态之一：i)当所接收的电磁能量的强度小于阈值点，该抽样数据低于阈值；ii)当该电磁能量的强度小于阈值点，该抽样数据高于阈值。该成像系统还包括用于提供抽样数据特征的饱和光学器件，其中，该抽样数据在小于阈值时的特征不同于该抽样数据大于阈值的特征。
饱和光学器件