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专利名称
农业 化学；冶金 建筑 机械工程 区域搜索
主分类
A 农业
B 作业；运输
C 化学；冶金
D 纺织；造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光学扫描高度测量装置-CN201711459225.3有效
  • 里吉宽之;杉野公彦;本间达朗 - 株式会社基恩士
  • 2017-12-28 - 2021-10-26 - G01B11/02
  • 提供了一种能够有效地对测量对象的期望部分的形状进行测量的光学扫描高度测量装置。接收测量对象(S)的图像上的测量点的指派。从发光部分(231)发射的光通过偏转部分偏转并且辐射在测量对象(S)上。偏转部分受到控制以将光辐射至测量对象(S)的对应于测量点的部分上。检测偏转部分的偏转方向或者通过偏转部分偏转的光的辐射位置。通过光接收部分接收来自测量对象(S)的光，并且输出指示接收到的光量的光接收信号。基于偏转部分的偏转方向或者通过偏转部分偏转的光的辐射位置以及通过光接收部分输出的光接收信号来计算测量对象(S)的对应于测量点的所述部分的高度。
  • 光学扫描高度测量装置
  • [发明专利]三维测量装置-CN201711432606.2有效
  • 本间达朗;里吉宽之 - 株式会社基恩士
  • 2017-12-26 - 2021-07-02 - G01B11/00
  • 提供一种能够在短时间内容易地对测量对象的期望部分的三维形状进行测量的三维测量装置。接收到用户对高度测量点和尺寸测量部分的指派。通过成像部分(220)获取测量对象(S)的图像。从发光部分(231)发射的光通过偏转部分(270)偏转，并且辐射至测量对象(S)上。偏转部分(270)被控制为将光辐射至测量对象(S)的对应于高度测量点的部分上。通过光接收部分接收来自测量对象(S)的光，并且输出指示接收到的光量的光接收信号。基于从光接收部分输出的光接收信号来计算测量对象(S)的与指派的高度测量点相对应的部分的高度。基于通过成像部分(220)获取的图像来计算测量对象(S)的与指派的尺寸测量部分相对应的部分的尺寸。
  • 三维测量装置
  •  1 
  • 共 3 条
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