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[发明专利]薄膜器件的材料图案化工艺-CN201280008219.5无效
发明人：约翰·德弗兰科;迈克·米勒;福克斯·霍尔特 -专利权人：正交公司
申请日： 2012-02-24 - 公布日： 2013-10-09 - 主分类号： H01L51/56 文献下载
摘要：一种形成器件的方法包括提供一个基板；在基板上沉积单个的氟化可光图案化层；在基板上形成第一、第二有源层；应用可光图案化层以便在第一有源层以内形成第一图案，在第二有源层以内形成第二个不同的图案。可以利用本发明公开的具体例子形成薄膜电子器件，包括减少光刻步骤的OLED器件和TFT。
薄膜器件材料图案化工

[发明专利]用于规划对检查对象的组合检查的方法-CN200910001870.X无效
发明人：拉尔夫·格里克;安妮特·冈布雷赫特;多罗西娅·劳克斯;黛安娜·马丁;迈克·米勒;卡斯滕·普林兹 -专利权人：西门子公司
申请日： 2009-01-14 - 公布日： 2009-07-22 - 主分类号： A61B19/00 文献下载
摘要：一种用于规划利用两个成像模态对检查对象进行组合检查的方法，其中在检查对象的至少两个区域中实施测量，所述方法包括如下的方法步骤：规划第一模态的至少一个测量方案(101，103，105，107，109)，该第一模态包括至少一个在第一区域中的测量(103a-109b)和至少一个在第二区域中的测量(103a-109b)；规划第二模态的至少一个测量方案，该第二模态包括至少一个在第一区域中的测量；以及通过如下地安排测量自动建立组合的测量流程：在考虑在测量之间实施的对模态的准备的条件下，该测量流程的实施占用尽可能少的时间。通过自动建立实际测量流程使得可以按照简单的方式对多个区域规划单个模态的测量方案。因此，在测量规划中诊断问题可以居首位。
用于规划检查对象组合方法

[发明专利]医学成像检查装置-CN200510059042.3无效
发明人：多萝西亚·劳克斯;迈克·米勒 -专利权人：西门子公司
申请日： 2005-03-23 - 公布日： 2005-10-05 - 主分类号： A61B5/055 文献下载
摘要：本发明公开了一种和移动患者卧榻的控制装置以及一个与控制装置相连接的、用于医学成像检查装置，尤其是磁共振装置，包括一个图像拍摄装置、一个患者卧榻、一个用于控制图像拍摄器件图像输出的监视器，其中，可由使用者(3)，在该患者的一幅用医学成像装置于第一患者卧榻位置(P1)拍摄、且在监视器(5)上示出的检查图像(B)中，确定一个为实现进一步检查所希望的新的患者卧榻位置(P2)，其中，该控制装置(6)设计成用于求出该确定的卧榻位置的位置数据和用于根据所求出的新位置数据来移动卧榻(8)，从而使该卧榻(8)紧接着占用该所希望的新位置。
医学成像检查装置

[发明专利]利用统计图像规划层析成像测量中断层位置的方法-CN200410103300.9有效
发明人：安德斯·戴尔;马丁·哈德;汉斯－彼得·霍伦巴赫;迈克·米勒;伊内斯·尼姆斯基;弗朗兹·施米特;奥利弗·施雷克;安德烈·范德库维 -专利权人：西门子公司;通用医疗公司
申请日： 2004-10-22 - 公布日： 2005-08-10 - 主分类号： A61B6/03 文献下载
摘要：本发明涉及一种利用统计图像规划层析成像测量中的断层位置的方法。在操作层析成像装置的方法和计算机程序产品中，通过显示标准对象的设计描述、在设计描述中定义标准成像区域的空间位置并且存储，来产生标准测量记录，作为标准对象的标准测量记录、标准成像区域的标准对象和参数的参考。通过获得表述对应于标准对象的检查对象特征的数据，确定检查对象特征与标准对象特征之间的几何关系，并产生特定于对象的测量记录，其中通过修改标准测量记录相对于检查对象定位成像区域，这样的标准测量记录然后被用于实际层析成像测量的断层位置规划。
利用统计图像规划层析成像测量断层位置方法

[发明专利]准备磁共振摄影的方法及应用该方法的核自旋层析摄影装置-CN02140196.9无效
发明人： 迈克·米勒;罗兰·施奈德 -专利权人：西门子公司
申请日： 2002-04-11 - 公布日： 2002-12-25 - 主分类号： A61B5/055 文献下载
摘要：根据本发明的使用已完成的磁共振摄影准备磁共振摄影的方法,在第一步骤中存储已完成的磁共振摄影的记录参数;在第二步骤中,在此同时或之后用图形显示已完成的磁共振摄影;在第三步骤中,提供对各个已完成的、并用图形显示的磁共振摄影的选择,并用图形显示出来;在第四步骤中,将使用者所选择的磁共振摄影的记录参数自动地转换为将要进行的磁共振摄影的记录参数。
准备磁共振摄影方法应用自旋层析装置