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[发明专利]一种中阶梯光栅小型固定装置及姿态调整方法-CN202110782919.0有效
发明人：曹海霞;赵英飞;夏钟海;何淼;罗剑秋;李宏伟;王卫东 -专利权人：钢研纳克检测技术股份有限公司
申请日： 2021-07-12 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01J3/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种中阶梯光栅小型固定装置及姿态调整方法，该固定装置包括底座，光栅压片、光挡片和改进的姿态调整机构，该改进的姿态调整机构包括：光栅第一调节安装块、光栅第二调节安装块、轴钉、螺纹副调节轴组件、弹簧组件和旋转板组件；该固定装置结构简单，组装方便，仅需完成螺纹副调节轴组件及弹簧组件的组装，即可实现中阶梯光栅姿态的三维姿态和空间高度的调整调试。该固定装置简单，组装方便，光栅的俯仰、倾斜和水平高度可分别调试，避免相互干扰，利于实现产业化。
一种阶梯光栅小型固定装置姿态调整方法

[实用新型]一种宽谱段高分辨电感耦合等离子体发射光谱仪-CN202121515524.6有效
发明人： 赵英飞;罗剑秋;曹海霞;夏钟海;李宏伟;何淼;王卫东;周伟 -专利权人：钢研纳克检测技术股份有限公司
申请日： 2021-07-05 - 公布日： 2022-03-22 - 主分类号： G01N21/73 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种宽谱段高分辨电感耦合等离子体发射光谱仪，属光谱仪器技术领域。该发射光谱仪包括进样系统、激发光源、色散系统、控制与检测系统和数据处理系统，所述进样系统、激发光源、色散系统和数据处理系统依次连接，所述控制与检测系统分别与进样系统、激发光源和数据处理系统连接，其中，所述色散系统采用背靠背双光栅扫描设计，还包括双滤光片和双PMT设计，其传动系统采用整涡轮盘设计。本实用新型提供的宽谱段高分辨电感耦合等离子体发射光谱仪，通过改进色散系统，在保证光谱分辨率的前提下，拓宽仪器的波长范围，降低基体干扰，提高系统灵敏度，能够实现多领域痕量及常量元素的分析。
一种宽谱段高分辨电感耦合等离子体发射光谱仪

[发明专利]一种背靠背双光栅调整装置及姿态调整方法-CN202111036830.6在审
发明人：曹海霞;赵英飞;夏钟海;罗剑秋;何淼;王卫东;李宏伟;周伟 -专利权人：钢研纳克检测技术股份有限公司
申请日： 2021-09-06 - 公布日： 2021-11-26 - 主分类号： G02B7/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种背靠背双光栅调整装置，属于光谱仪分光系统技术领域。该背靠背双光栅调整装置，包括呈工字形的双光栅底座和设置于双光栅底座下端的双光栅底座调整机构；双光栅底座的左右两端分别设置有第二光栅和第一光栅，第一光栅通过第一光栅固定模块固定于双光栅底座右端，第二光栅通过第二光栅固定模块固定于双光栅底座左端；第二光栅固定模块用于调整第二光栅的姿态，双光栅底座调整机构上的俯仰调节螺钉和倾斜调节螺钉用于调整第一光栅的姿态。本发明提供的背靠背双光栅调整装置，具有调试功能，能够分别实现背靠背双光栅的姿态调试。
一种背靠背光栅调整装置姿态方法

[发明专利]一种中阶梯光栅光谱仪的自动调试系统及方法-CN201910542604.1有效
发明人： 赵英飞;曹海霞;王卫东;罗剑秋;夏钟海;周伟 -专利权人：钢研纳克检测技术股份有限公司
申请日： 2019-06-21 - 公布日： 2021-09-07 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种中阶梯光栅光谱仪的自动调试系统及方法，该系统包括自动调试平台，自动调试平台上设置有上位机、控制模块、存储模块、谱图分析模块、调试模型、电机控制器和姿态调整电机组；探测器采集模块将采集的谱图传递给谱图分析模块；谱图分析模块通过特征光斑的相对位置信息来解析谱图，判断待调试模块的工作姿态；调试模型根据预存的调试参数和接收到的待调试模块的工作姿态的判断结果，计算待调试模块的调整方式及调整量，发送给上位机，上位机给控制模块发送调试指令；控制模块用于对电机控制器发出指令，电机控制器通过驱动器控制姿态调整电机组，从而实现待调试模块工作状态的改变。本发明人力成本低、可靠性高。
一种阶梯光栅光谱仪自动调试系统方法

[发明专利]一种宽谱段高分辨电感耦合等离子体发射光谱仪-CN202110758756.2在审
发明人： 赵英飞;罗剑秋;曹海霞;夏钟海;李宏伟;何淼;王卫东;周伟 -专利权人：钢研纳克检测技术股份有限公司
申请日： 2021-07-05 - 公布日： 2021-08-17 - 主分类号： G01N21/73 文献下载
摘要：本发明公开了一种宽谱段高分辨电感耦合等离子体发射光谱仪，属光谱仪器技术领域。该发射光谱仪包括进样系统、激发光源、色散系统、控制与检测系统和数据处理系统，所述进样系统、激发光源、色散系统和数据处理系统依次连接，所述控制与检测系统分别与进样系统、激发光源和数据处理系统连接，其中，所述色散系统采用背靠背双光栅扫描设计，还包括双滤光片和双PMT设计，其传动系统采用整涡轮盘设计。本发明提供的宽谱段高分辨电感耦合等离子体发射光谱仪，通过改进色散系统，在保证光谱分辨率的前提下，拓宽仪器的波长范围，降低基体干扰，提高系统灵敏度，能够实现多领域痕量及常量元素的分析。
一种宽谱段高分辨电感耦合等离子体发射光谱仪

[发明专利]一种全差分驱动的射频发生器-CN201710427683.2有效
发明人： 赵英飞;袁文东;罗剑秋;杨超斌 -专利权人：钢研纳克检测技术股份有限公司
申请日： 2017-06-08 - 公布日： 2021-02-19 - 主分类号： H03F3/45 文献下载
摘要：本发明属于测试分析仪器射频发生器领域，特别涉及一种全差分驱动的射频发生器。本发明采用全差分驱动电路，使两路幅值相等、相位相差180度的射频信号分别作用于负载线圈两端；将PLL技术与现有的射频放大电路技术相结合；通过调频的方式达到阻抗匹配。本发明的等离子体中心的电势接近于零；采用多级驱动和多级放大的方式大大提高了射频输出功率的范围，最大功率可达几千瓦；不需要独立的匹配器，大大减小了射频发生器的体积；相比于传统的匹配器调节方式匹配调节速度快，可控制在几十毫秒以内。
一种全差分驱动射频发生器

[发明专利]偏置角可调中阶梯光栅效率测试仪的光路结构及测试方法-CN201811019514.6有效
发明人：曹海霞;赵英飞;何淼;夏钟海 -专利权人：钢研纳克检测技术股份有限公司
申请日： 2018-09-03 - 公布日： 2021-02-12 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种偏置角可调中阶梯光栅衍射效率测试仪的光路结构。该光路结构包括光源、前置光路、测量光路和探测系统；测量光路按光束的传播轨迹顺序包括中间狭缝、准直镜、待测元件、聚焦镜模块和出射狭缝；待测元件通过双层旋转平台安装在光路中，实现待测中阶梯光栅不同偏置角的设置，以及中阶梯光栅不同测试波长范围的扫描；聚焦镜模块处设置有刻度标尺，所述刻度标尺的刻度根据待测中阶梯光栅的偏置角设置，聚焦镜模块设置在与偏置角相对应的刻度标尺的刻度位置上。本发明实现中阶梯光栅真实工作状态下衍射效率的测试，能够更加准确的评价中阶梯光栅在光谱仪中的能量传输性能。
偏置可调阶梯光栅效率测试仪结构测试方法

[发明专利]一种光谱仪的中阶梯光栅姿态调整方法和校准装置-CN201810116151.1有效
发明人：罗剑秋;曹海霞;何淼;赵英飞;夏钟海 -专利权人：钢研纳克检测技术股份有限公司
申请日： 2018-02-06 - 公布日： 2020-12-22 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明属于光谱仪分光系统领域，涉及一种光谱仪的中阶梯光栅姿态调整方法和校准装置。本发明的调整方法利用中阶梯光栅的衍射理论，结合分光模块光学系统的具体参数，精确计算中阶梯光栅多个衍射级次的光斑成像在中阶梯光栅姿态调整校准装置上的相对位置，并做出相应标记，据此通过中阶梯光栅固定结构调整中阶梯光栅的三维姿态。本发明的校准装置基于中阶梯光栅衍射理论与光学系统具体参数设计而成，计算精确，易于实现，可操作性强，能够精确实现中阶梯光栅在光谱仪中的姿态调整；同时，该中阶梯光栅姿态调整校准装置装适用性强，当光学系统相关光学参数发生变化时，仅需重新计算设计中阶梯光栅各衍射级次的光斑对应位置即可。
一种光谱仪阶梯光栅姿态调整方法校准装置

[发明专利]一种双狭缝切换的二维高分辨率光谱仪光学系统-CN201711063800.8有效
发明人：曹海霞;何淼;赵英飞;夏钟海 -专利权人：钢研纳克检测技术股份有限公司
申请日： 2017-11-02 - 公布日： 2020-05-22 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明属于光学系统设计、光学仪器技术领域，特别是一种双狭缝切换的二维高分辨光谱仪光学系统，包括光源(1)、前置光路(2)、双狭缝切换机构和分光系统；双狭缝切换机构包括可调整的切换棱镜(3)、第一狭缝(4)和第二狭缝(5)，分光系统包括准直镜(7)、分光棱镜(8)、中阶梯光栅(9)、聚焦镜(10)、面阵CCD(11)；从第一狭缝(4)或第二狭缝(5)出射的光束经准直镜(7)准直为平行光束，经分光棱镜(8)、中阶梯光栅(9)、聚焦镜(10)反射聚焦至探测器的面阵CCD(11)，面阵CCD(11)能够分别接收短波波段和长波波段两个波段的光谱信息。该系统具有高光谱分辨率、短波波段系统光通量大、有效缓解衍射级次干扰的优点。
一种狭缝切换二维高分辨率光谱仪光学系统

[外观设计]电感耦合等离子体原子发射光谱仪-CN201930344672.8有效
发明人： 赵英飞;周伟;罗剑秋;夏钟海;何淼;曹海霞 -专利权人：钢研纳克检测技术股份有限公司
申请日： 2019-07-01 - 公布日： 2019-12-24 - 主分类号： 24-01 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：电感耦合等离子体原子发射光谱仪。;2.本外观设计产品的用途：本产品用于对元素含量的检测。;3.本外观设计产品的设计要点：在于形状与图案的结合。;4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
电感耦合等离子体原子发射光谱仪

[实用新型]一种用于WELDFAST焊枪的灭弧装置-CN201920382897.7有效
发明人：郑立波;陈莹;徐建丽;臧志昆;赵英飞;侯猛;崔道存;刘以飞;徐政;夏云鹏;李闯;韩旭 -专利权人：一汽-大众汽车有限公司
申请日： 2019-03-25 - 公布日： 2019-12-13 - 主分类号： B23K9/32 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于WELDFAST焊枪的灭弧装置，为设于焊枪枪头旁侧的导电杆，所述导电杆具有引流斜切面，所述引流斜切面对应所述焊枪枪头侧设置，以形成负极端引导弧光电流灭弧。本实用新型提供的用于WELDFAST焊枪的灭弧装置基本消除了WELDFAST焊设备中焊枪枪头与环式灭弧罩之间因焊渣堆积或飞溅而造成打火粘连的情况，降低了备件费用的消耗，提高了设备的开动率，操作替换简单，可靠性高，成本低廉，具有很大推广价值。
焊枪枪头本实用新型引流灭弧装置焊枪导电杆斜切备件费用弧光电流负极端灭弧罩斜切面粘连飞溅打火焊渣环式灭弧替换堆积消耗

[发明专利]一种应用于ICP光谱的入射光观测位置调节结构-CN201610592932.9有效
发明人： 赵英飞;董海洋;罗剑秋;何淼;曹海霞 -专利权人：钢研纳克检测技术股份有限公司
申请日： 2016-07-25 - 公布日： 2019-03-05 - 主分类号： G01N21/73 文献下载
摘要：一种应用于ICP光谱的入射光观测位置调节结构，属于光谱仪入射光观测技术领域。包括：包括：光桶、主体、窗片、第一反射镜、第一反射镜基座、调整块、调整杆、弹簧、偏转轴、转动环、第一限位杆、限位开关、铜套、旋转杆、电机、偏心轴、第二限位杆、调整销、旋转曲柄、轴承、第二反射镜基座、第二反射镜。通过调节结构上的电机运动调整第一反射镜和第二反射镜的位置，通过采集系统实时的监测采集信号的变化，使其找到各元素最佳的光线入射路径，以获得最大的灵敏度，降低仪器的检出限及避免背景干扰。
一种应用于 icp 光谱入射观测位置调节结构

[发明专利]一种应用于ICP光谱仪的中阶梯光栅光谱仪分光光路结构-CN201810666086.X在审
发明人：何淼;曹海霞;夏钟海;赵英飞;罗剑秋;宫小艳 -专利权人：钢研纳克检测技术股份有限公司
申请日： 2018-06-26 - 公布日： 2018-11-27 - 主分类号： G01N21/73 文献下载
摘要：本发明属于光谱仪分光系统领域，涉及一种应用于ICP光谱仪的中阶梯光栅光谱仪分光光路结构，该分光光路结构按光束的传播轨迹顺序包括：入射狭缝、用于准直入射光的准直反射镜、棱镜、用于实现高阶色散的中阶梯光栅、用于聚焦各波长平行光束的成像反射镜和用于接收光谱图像信号的面阵探测器；棱镜用于实现光束的交叉色散如下：光束从棱镜的同一侧入射和出射实现双次色散。本发明中阶梯光栅多个衍射级次的交叉色散通过同一棱镜双次色散实现，较之棱镜单次色散或棱镜反射，相同通光口径下光路在宽度上得以压缩；同时，在达到相同色散效果时，棱镜的厚度和楔角大大减小，可减少材料对光的吸收，提高系统的测试灵敏度；测试的短波下限可达165nm。
棱镜色散阶梯光栅光谱仪分光光路光谱图像信号测试灵敏度成像反射镜面阵探测器准直反射镜分光系统高阶色散轨迹顺序减少材料棱镜反射平行光束入射狭缝色散效果通光口径入射光波长出射短波光路减小入射楔角衍射准直应用聚焦测试压缩传播吸收

[发明专利]高分辨率中阶梯光栅光谱仪二维偏差谱图分析与校正方法-CN201710442950.3有效
发明人：李宏伟;曹海霞;何淼;赵英飞 -专利权人：钢研纳克检测技术股份有限公司
申请日： 2017-06-13 - 公布日： 2018-05-01 - 主分类号： G01J3/443 文献下载
摘要：本发明属于光谱技术领域，特别涉及的一种高分辨率中阶梯光栅光谱仪二维偏差谱图的分析与校正方法。该方法包括如下步骤步骤一，获得中阶梯光栅光谱仪的二维谱图；步骤二，对获得的二维谱图进行判读；步骤三，反演棱镜参数的偏差量和/或中阶梯光栅参数的偏差量；步骤四，对中阶梯光栅光谱仪的二维偏差谱图进行校正。本发明方法能够实现二维偏差谱图的定性分析及定量计算，同时能够实现二维偏差谱图的校正工作，对二维偏差谱图进行分析并校正后，能够充分发挥中阶梯光栅光谱仪高光谱分辨率、高灵敏度、低检出限等优势，同时该校正方法仅需对装调工装做微小改变，具有操作简单、易于实现等优点。
高分辨率阶梯光栅光谱仪二维偏差分析校正方法

[发明专利]应用于ICP分析仪器等离子体位置调节的二维移动平台-CN201510314333.6有效
发明人：董海洋;赵英飞;罗剑秋;唐振山;何淼;曹海霞 -专利权人：钢研纳克检测技术有限公司
申请日： 2015-06-09 - 公布日： 2017-12-26 - 主分类号： G01N21/73 文献下载
摘要：一种应用于ICP分析仪器等离子体位置调节的二维移动平台，属于ICP分析仪器等离子体调节系统技术领域。包括水平滑轨、下支撑板、小轴承、光轴、U型块、传动板、连接板、大轴承、联轴器、电机、接触开关、限位环、接触开关基座、上滑动斜块、斜块固定板、中支撑板、斜块固定板连接板、垂直移动板、导轨、导轨滑块、垂直固定板、光电开关感应片、光电开关、垂直滑轨、下滑动斜块、上支撑板。通过二维移动平台的调节，实时的监测采集信号的变化，当信号最强时，即可认为等离子体的观测深度处于最佳位置，视场最好，灵敏度最好，背景干扰最小。
应用于 icp 分析仪器等离子体位置调节二维移动平台

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