“覃义平”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果3个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[实用新型]闪存存储芯片测试装置-CN202321354329.9有效
发明人： 覃义平 -专利权人：联和存储科技（江苏）有限公司
申请日： 2023-05-30 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本实用新型公开一种闪存存储芯片测试装置，包括：多个SOC测试模块，用于分别搭载闪存存储芯片进行测试；主单片机，与多个SOC测试模块通信连接，用于发送测试指令；测试数据采集模块，用于采集测试数据；测试数据处理模块，与测试数据采集模块和主单片机分别通信连接，用于对测试数据进行处理并发送至主单片机；供电控制模块，与多个SOC测试模块分别连接，用于根据每一个SOC测试模块的测试情况对其进行供电控制。本实用新型闪存存储芯片测试装置中，当任一SOC测试模块出现测试异常/故障的测试情况时，供电控制模块可对应对该SOC测试模块断电关停，从而进行针对性检修以排除故障，其它SOC测试模块则照常测试，降低对整体测试进度的影响，提高了测试效率。
闪存存储芯片测试装置

[发明专利]EMMC芯片测试方法及其装置、计算机可读存储介质-CN202310643328.4在审
发明人： 覃义平;高伟 -专利权人：联和存储科技（江苏）有限公司
申请日： 2023-06-01 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开一种EMMC芯片测试方法，包括：主控模块通过传输模块将系统镜像文件发送至测试模块；测试模块通过传输模块下载系统镜像文件；测试模块运行系统镜像文件，并启动测试线程和收发线程；测试模块通过测试线程对插接于测试模块的EMMC芯片进行测试以生成测试结果；以及测试模块通过收发线程将测试结果发送至主控模块。本发明公开的EMMC芯片测试方法能够解决嵌入式设备的兼容性测试的问题。此外，本发明还公开一种EMMC芯片测试装置以及计算机可读存储介质。
emmc 芯片测试方法及其装置计算机可读存储介质

[发明专利]SD NAND测试装置、SD NAND测试方法及计算机可读存储介质-CN202310859930.1在审
发明人： 覃义平;高伟 -专利权人：联和存储科技（江苏）有限公司
申请日： 2023-07-13 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明公开一种SD NAND测试装置，该SD NAND测试装置包括：多个SD NAND测试座，用于分别搭载SD NAND并对所述SD NAND进行测试；主控单片机，与多个所述SD NAND测试座采用SDIO总线通信连接，用于向多个所述SD NAND测试座逐一发送测试指令；测试数据采集模块，包括多路ADC采集电路模块，分别与多个所述SD NAND测试座和所述主控单片机通信连接，所述多路ADC采集电路模块用于采集所述SD NAND测试座的测试数据；上位机，与所述主控单片机通信连接，所述上位机的测试界面可预先设置多个SD NAND测试座的测试顺序；其中，在任意一个所述SD NAND测试座完成测试之后，所述主控单片机按预设测试顺序向下一个所述SD NAND测试座发送测试指令。本发明SD NAND测试装置故障检测效率高，可减小对测试进度的影响。
sd nand 测试装置方法计算机可读存储介质