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[发明专利]芯片测试方法、装置及计算机可读存储介质-CN202310855036.7在审
发明人：林清龙;任刚 -专利权人： 苏州首传微电子有限公司
申请日： 2023-07-12 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种芯片测试方法、装置及计算机可读存储介质，芯片测试方法，包括将测试模式生成模块与总线的数据接口和时钟接口连接，从所述总线的数据接口获取数据信号，作为测试时钟信号，从所述总线的时钟接口获取时钟信号，作为测试数据信号，通过所述测试时钟信号对所述测试数据信号进行采样，当采样到的数据发生翻转时，所述测试模式生成模块指示进入测试模式，通过总线的数据接口和时钟接口进行测试，无需占用额外的管脚。
芯片测试方法装置计算机可读存储介质

[发明专利]时钟偏移校正电路及方法-CN202310210979.4在审
发明人：许永生;陈继凯 -专利权人： 苏州首传微电子有限公司
申请日： 2023-03-07 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： H03K5/01 文献下载
摘要：本发明提供了一种所述时钟偏移校正电路包括可变延时单元、时钟偏移检测单元、滤波单元、比较单元和校正单元，所述校正单元与所述比较单元和所述可变延时单元连接，用于根据比较结果信号输出校正极性信号和控制信号，然后通过所述校正极性信号和控制信号对所述可变延时单元进行时延控制，形成负反馈调节，进而降低或消除时钟偏移。本发明还提供了一种时钟偏移校正方法。
时钟偏移校正电路方法