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[发明专利]自动分析系统-CN201810772539.7有效
发明人：宫田佑贵;涩谷敏;塙俊英;笠间干雄 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2018-07-13 - 公布日： 2022-06-07 - 主分类号： G01N35/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种容易在短时间内显示与自动分析装置相对应的装置操作方法说明信息的技术。在自动分析装置中，平板终端(114)具有终端信息管理部(210)和终端显示部(208)。终端信息管理部(210)生成获取一个以上的自动分析装置(101)的装置操作方法说明信息的装置操作信息参照画面。终端显示部(208)显示终端信息管理部(210)所生成的装置操作信息参照画面。终端显示部(208)所显示的装置操作信息参照画面具有对应于所有自动分析装置的第一显示单元和对应于由该第一显示单元选择的自动分析装置的装置操作方法说明信息的项目的第二显示单元。终端信息管理部(210)根据所接受的装置操作方法说明信息生成第二显示单元并显示于终端显示部(208)。
自动分析系统

[发明专利]自动分析装置-CN201210103683.4有效
发明人：折桥敏秀;高木由充;笠间干雄 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2006-09-11 - 公布日： 2012-08-01 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明提供一种分析装置，在精度管理试样的测定数据在预先设定的基准上下限值的范围以外时，通过简化校准或精度管理试样的再测定，可以迅速进行装置的精度管理的应对处理，而且可以继续实现高可靠性的分析。具有以下的功能：比较预先设定的精度管理试样的测定数据的基准上下限值和精度管理试样的测定数据，如果测定数据在基准上下限值之外，则推荐校准的再测定，用户可以通过操作画面进行确认以及可以容易地指示测定委托。另外，具有以下的单元：可以确认基准上下限值的范围之外的精度管理试样的测定数据以及可以容易地指示该分析项目的精度管理试样的再测定。
自动分析装置

[发明专利]自动分析装置-CN200610151669.6有效
发明人：折桥敏秀;高木由充;笠间干雄 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2006-09-11 - 公布日： 2007-03-21 - 主分类号： G01N33/48 文献下载
摘要：本发明提供一种分析装置，在精度管理试样的测定数据在预先设定的基准上下限值的范围以外时，通过简化校准或精度管理试样的再测定，可以迅速进行装置的精度管理的应对处理，而且可以继续实现高可靠性的分析。具有以下的功能：比较预先设定的精度管理试样的测定数据的基准上下限值和精度管理试样的测定数据，如果测定数据在基准上下限值之外，则推荐校准的再测定，用户可以通过操作画面进行确认以及可以容易地指示测定委托。另外，具有以下的单元：可以确认基准上下限值的范围之外的精度管理试样的测定数据以及可以容易地指示该分析项目的精度管理试样的再测定。
自动分析装置