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[外观设计]半导体寿命循环测试设备-CN202330146740.6有效
发明人：冯代存;石金民 -专利权人：浙江先导热电科技股份有限公司
申请日： 2023-03-24 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：半导体寿命循环测试设备。2.本外观设计产品的用途：用于半导体寿命循环测试的设备。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
半导体寿命循环测试设备

[发明专利]一种半导体寿命循环测试装置-CN202310325470.4在审
发明人：冯代存;石金民 -专利权人：浙江先导热电科技股份有限公司
申请日： 2023-03-24 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体寿命循环测试装置，旨在解决热电半导体寿命测试操作不便，工作效率低的不足。该发明包括：机架；工作台，设置在机架上；若干装夹机构，设置在工作台上用于装夹热电半导体；装夹机构上安装温度检测器；控制器，设置在机架上，控制器接收温度检测器检测到的温度信号，控制器向热电半导体输出测试电流。本发明的这种半导体寿命循环测试装置方便了热电半导体模块寿命测试操作，工作效率高，测试过程中热电半导体模块定位效果好，保证了测试的精准度。
一种半导体寿命循环测试装置