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[发明专利]导电部的制造方法、包括导电部的电子零件的制造方法、组装包括导电部的电子零件而成的产品的制造方法、导电部、具有导电部的电子零件、组装包括导电部的电子零件的产品-CN202180076762.8在审
发明人： 田之冈大辅 -专利权人：株式会社V技术
申请日： 2021-09-09 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： H05K1/09 文献下载
摘要：本发明提供一种在表面具有绝缘层的导电体与其他导电体之间简单地制作导电部的制造方法。本发明通过设为如下导电部的制造方法来解决问题，其包括：第1工序，在表面具有绝缘层的第1导电体上层叠第2导电体；及第2工序，包括所述绝缘层在内将所述第1导电体和所述第2导电体熔融来制作熔融区域，并且在所述熔融区域的中心形成周围被所述熔融区域包围的孔。
导电制造方法包括电子零件组装产品具有

[发明专利]光学异向性参数测量装置、测量方法及测量用程序-CN201280017649.3有效
发明人： 田之冈大辅 -专利权人：肖特茉丽特株式会社
申请日： 2012-04-05 - 公布日： 2013-12-25 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本发明的目的在于通过将入射光垂直照射于试样而谋求装置整体的小型化，同时可在极短时间内测量光学轴的方向以及异向性的大小。本发明的光学异向性参数测量装置，形成有从激光器(6)将入射光朝垂直方向照射至试样(3)且将朝垂直方向反射的反射光经由半透半反镜(7)引导至受光元件(9)的测量光学系统(4)，在激光器(6)与半透半反镜(7)之间配置偏振器(P)，并且在半透半反镜(7)与受光元件(9)之间配置检光器(A)，在半透半反镜(7)与试样(3)之间配置：1/2波长板(12)，使通过偏振器(P)所产生的直线偏振光旋转；以及1/4波长板(13)，使迟相轴的方向从相对于1/2波长板(12)的迟相轴偏移了±δ(δ≠nπ/4，n是整数)的初始位置，以旋转角度相对于1/2波长板(12)成为2倍的方式同步地被旋转驱动。
光学向性参数测量装置测量方法程序

[发明专利]光学各向异性参数测定方法及测定装置-CN200610084031.5有效
发明人： 田之冈大辅 -专利权人：株式会社茉莉特斯
申请日： 2006-01-24 - 公布日： 2006-10-18 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明的目的是提供可高速、高精度测定光学各向异性薄膜的光学轴的方向和大小、以及膜厚，并可进一步根据二维受光元件进行分布测定的方法和装置。其具体方式是以从测定点(M)向上的法线(Z)作为中心，从以预定角度间隔设定的多个入射方向，使P偏振光的单色光以预定入射角度照射，对应于入射方向检测出包含在其反射光中S偏振光的反射光强度，基于在反射光强度显示出极小值的入射方向中、被测定出了作为最大峰的两个极大值(∧₁、∧(V₁)的入射方向，确定测定点M中光学轴(OX)的方位角方向(Φ的极大值(∧₁)和与其邻接的中间峰的极大值(∧₃)夹着的极小值(V₃)的入射方向，确定极角方向(θ)。
光学各向异性参数测定方法装置