专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于调整半导体晶体管的驱动电流的方法和装置-CN201280052476.9有效
  • 杨志坚;王平川;冯凯棣;爱德华·J·小浩斯泰特 - 国际商业机器公司
  • 2012-10-24 - 2016-11-09 - H03K17/30
  • 本发明公开了用于修复晶体管的方法和装置,包括:给PFET的源极施加第一电压,给PFET的栅极施加第二电压,以及给PFET的漏极施加第三电压达预定时间。其中第一电压大于第二电压,并且第二电压大于第三电压。本发明人已经确定,通过施加这些电压,被捕获于栅极电介质内的空穴将会减少。以此方式,可以修复半导体结构或者使其恢复至或接近最初的操作特性。另一种实施例是通过给NFET的漏极施加第一电压、给NFET的栅极施加第二电压以及给NFET的源极施加第三电压达预定时间来修复NFET晶体管的方法和装置。第一电压大于第二电压,而第二电压大于第三电压。如同在第一实施例中所示出的,本发明的目的是修复晶体管。在NFET的情形中,电子在正常的操作期间聚积于栅极电介质上。通过按照所描述的方式来施加电压,可以修复晶体管以使其在处于或接近于最初的规范下操作。
  • 用于调整半导体晶体管驱动电流方法装置

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