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- [发明专利]屏蔽X射线辐射装置-CN201780092459.0有效
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J·蒂克纳
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澳洲快索有限公司
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2017-06-23
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2023-09-05
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G21F3/00
- 提供了一种屏蔽X射线辐射装置，包括X射线源、X射线衰减屏蔽、中子衰减屏蔽和伽马衰减屏蔽，所述X射线衰减屏蔽包括用于容纳所述X射线源的细长空腔并且结合了用于容纳样品的区域。中子衰减屏蔽与X射线衰减屏蔽相邻并基本上围绕X射线衰减屏蔽，而伽马衰减屏蔽与中子衰减屏蔽相邻并基本上围绕中子衰减屏蔽。在一些实施例中，提供了可移除样品插入装置，以将样品插入到细长空腔中，并且该可移除样品插入装置由相邻的材料块组成，每个各个的块具有厚度和组成，其基本上匹配X射线衰减、中子衰减和伽马射线衰减屏蔽中的一个的厚度和组成。
- 屏蔽射线辐射装置
- [发明专利]用于湿度测量的系统和方法-CN201980040827.6在审
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J·蒂克纳
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澳洲快索有限公司
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2019-06-13
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2021-02-02
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G01N23/22
- 提供了一种测定经受元素活化分析(EAA)的样品材料中的湿含量的系统和方法，所述样品材料含有至少一种在EAA期间形成活化产物的样品元素。所述方法包括以下步骤：(i)将参考材料定位在所述样品材料附近，所述参考材料含有热中子俘获截面为至少1靶恩的参考元素，选择所述参考材料以使得其热中子俘获反应的产物同位素为发射γ射线的同位素，(ii)用快速中子源照射所述样品材料和所述参考材料以在所述样品材料中产生热中子，以及(iii)检测从所述参考材料发射的γ射线并生成表示所检测的γ射线的信号，(iv)基于所生成的信号计算与热中子通量成比例的因子R，以及(v)从使湿含量与R相关的关系中识别所述样品材料中的湿含量。
- 用于湿度测量系统方法
- [发明专利]用于金的快速分析的改进方法-CN201480069225.0有效
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J·蒂克纳;格雷格·罗奇
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澳洲快索有限公司
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2014-12-16
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2017-12-26
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G01N23/223
- 提供一种确定样本中的目标元素的浓度的方法。所述方法包括(i)相对于包含参考元素的参考材料定位包含目标元素的样本，(ii)同时利用轫致辐射X‑射线辐射所述样本和所述参考材料，以由此在所述目标元素中产生活化核并且在所述参考元素中产生活化核，(iii)检测来自所述经辐射样本的钝化γ‑射线和来自所述经辐射参考材料的钝化γ‑射线，(iv)确定来自所述经辐射样本的所检测的钝化γ‑射线的第一数量和来自所述参考材料的所检测的钝化γ‑射线的第二数量，以及(v)通过首先由来自所述参考材料的所检测的钝化γ‑射线的所述第二数量对来自所述经辐射样本的所检测的钝化γ‑射线的所述第一数量进行归一化来确定所述样本中的所述目标元素的所述浓度。在电子束能量的范围上参考元素对目标元素的截面比率的变化小于预定的测量准确度。
- 用于快速分析改进方法
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