专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]智慧环卫管理方法及系统-CN202310848407.9在审
  • 潘林超 - 广东易彻科技有限公司
  • 2023-07-12 - 2023-10-10 - G06Q10/0631
  • 本发明提供了智慧环卫管理方法及系统,涉及环卫管理技术领域,包括:当第一区域清洁间隔计时小于预设清洁周期,获取第一区域活动信息包括人为活动信息和自然活动信息;根据人为活动信息,获取第一污染概率;根据自然活动信息,获取第二污染概率;当第一污染概率或/和第二污染概率大于或等于污染概率阈值,调取第一区域监测图像特征提取,获取污染物分布面积;当大于或等于分布面积阈值,生成临时清洁指令基于环卫管理排班平台进行调度优化,获取人员调度方案对第一区域进行清洁,且将第一区域清洁间隔计时归置为零重新计时。本发明解决了现有技术中的环境卫生管理存在人力成本较高,管理效率较低的技术问题。
  • 智慧环卫管理方法系统
  • [发明专利]基于激光粒度仪测量颗粒样品中超大粒含量的方法及装置-CN202210774537.8在审
  • 张福根;潘林超 - 珠海真理光学仪器有限公司
  • 2022-07-01 - 2023-01-31 - G01N15/02
  • 本发明涉及基于激光粒度仪测量颗粒样品中超大粒含量的方法,通过预设定的超大粒的最小粒径,计算所述最小粒径散射光能分布的峰值位置,即峰值对应的探测单元序号I,基于探测单元序号I,找寻出N帧散射光能分布信号中含有超大粒的信号,将含有超大粒的信号从N帧散射光能分布信号分离出来,并分别计算含有超大粒与不含超大粒的信号对应的粒度分布,基于不含超大粒的信号对应的粒度分布的百分比粒径D90计算含有超大粒的信号对应的粒度分布中的超大粒比例,并最终计算出超大粒含量。本发明的计算方法能够先将含有超大粒的信号进行有效的区分,进而计算含有超大粒的信号中超大粒的含量,能够避免现有方法中对超大粒含量检测的灵敏度不高的问题。
  • 基于激光粒度测量颗粒样品超大含量方法装置
  • [发明专利]通过余弦拟合技术测量Zeta电位的方法及装置-CN202210829111.8在审
  • 张福根;陈进;潘林超 - 珠海真理光学仪器有限公司
  • 2022-07-14 - 2022-12-23 - G01N27/26
  • 本发明涉及通过余弦拟合技术测量Zeta电位的方法,包括以下:对参考光进行调制以产生固定的频移,同时在电泳电极的两端施加交变的方波电压,使两电极之间的电场方向交替变化,处在两电极之间的分散体系中的带电颗粒交替地进行正或负向的匀速运动,颗粒的散射光与调制参考光相干叠加,叠加后的光束经光电探测器后变为一系列的电信号串,分别计算正、负向电场下的自相关函数的平均值,再进行高通滤波和Hilbert变换处理,最后对处理后的正、负向自相关函数信号进行余弦函数拟合,得到正、负向信号的余弦角频率值Ω”和Ω',结合二者计算出颗粒的运动速度,最后得到Zeta电位。本发明所提出的计算方法显著地提升了Zeta电位测试的重复性,性能明显优于现有的测量方法。
  • 通过余弦拟合技术测量zeta电位方法装置
  • [外观设计]电子工牌-CN202230384867.7有效
  • 潘林超 - 广东易彻科技有限公司
  • 2022-06-22 - 2022-12-02 - 14-02
  • 1.本外观设计产品的名称:电子工牌。2.本外观设计产品的用途:用于高精度定位、双向通话、广播功能的定位设备。3.本外观设计产品的设计要点:在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片:立体图。
  • 电子
  • [外观设计]安全插座-CN202230421561.4有效
  • 潘林超 - 余姚市林盛电器有限公司
  • 2022-07-05 - 2022-10-14 - 13-03
  • 1.本外观设计产品的名称:安全插座。2.本外观设计产品的用途:用于电源插座,具有漏电保护、过载保护、短路保护、防水等安全技术措施。3.本外观设计产品的设计要点:在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片:立体图。
  • 安全插座
  • [发明专利]颗粒折射率测量方法、计算机装置及计算机可读存储介质-CN201810552388.4有效
  • 张福根;潘林超 - 珠海真理光学仪器有限公司
  • 2018-05-31 - 2020-08-11 - G01N21/41
  • 本发明公开一种颗粒折射率测量方法、计算机装置及计算机可读存储介质,该方法包括获取激光粒度仪测量的待测样品的实测散射光能数据,获取实测散射光能数据中的主峰数据,并使用主峰数据计算待测样品中颗粒物的粒度分布数据;计算二个以上的相对折射率下颗粒物的粒度分布符合粒度分布数据时的拟合散射光能数据;计算实测及拟合归一化散射光能数据,并计算两者的方差;通过迭代计算两者方差最小时的目标相对折射率的值;应用介质的折射率与目标相对折射率的值计算待测样品的折射率。本发明还提供实现上述方法的计算机装置以及计算机可读存储介质。本发明可以方便的应用激光粒度仪的数据计算出颗粒物的折射率。
  • 颗粒折射率测量方法计算机装置可读存储介质
  • [实用新型]一种带环形测量池的激光粒度分析仪-CN201720374474.1有效
  • 张福根;潘林超 - 珠海真理光学仪器有限公司
  • 2017-04-11 - 2017-12-19 - G01N15/02
  • 本实用新型公开了一种带环形测量池的激光粒度分析仪,包括激光器、透镜、针孔、柱面镜、环形测量池、探测器组件;激光器、透镜、针孔、柱面镜、环形测量池在同一光轴上并依次设于机架之上;探测器组件包括中心探测器、主探测器、若干个大角探测器,大角探测器以环形测量池为中心成环形布设,中心探测器设于主探测器之后,所述环形测量池为圆柱体结构的玻璃环柱,其中部设有圆柱形内腔;所述针孔位置、环形测量池中心和主探测器的通孔设置于上述光轴上;本实用新型的一种带环形测量池的激光粒度分析仪,其结构简洁、性能稳定、尤其在亚微米颗粒测量上具有良好的效果。
  • 一种环形测量激光粒度分析
  • [发明专利]一种带环形测量池的激光粒度分析仪-CN201710233885.3在审
  • 张福根;潘林超 - 珠海真理光学仪器有限公司
  • 2017-04-11 - 2017-06-30 - G01N15/02
  • 本发明公开了一种带环形测量池的激光粒度分析仪,包括激光器、透镜、针孔、柱面镜、环形测量池、探测器组件;激光器、透镜、针孔、柱面镜、环形测量池在同一光轴上并依次设于机架之上;探测器组件包括中心探测器、主探测器、若干个大角探测器,大角探测器以环形测量池为中心成环形布设,中心探测器设于主探测器之后,所述环形测量池为圆柱体结构的玻璃环柱,其中部设有圆柱形内腔;所述针孔位置、环形测量池中心和主探测器的通孔设置于上述光轴上;本发明的一种带环形测量池的激光粒度分析仪,其结构简洁、性能稳定、尤其在亚微米颗粒测量上具有良好的效果。
  • 一种环形测量激光粒度分析

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