专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]颗粒分析装置和颗粒分析方法-CN201710038259.9在审
  • 樱本启二郎 - 株式会社堀场制作所
  • 2017-01-19 - 2017-08-01 - G01N15/02
  • 本发明提供颗粒分析装置和颗粒分析方法,能高精度地求出分散在分散介质中的颗粒的长宽比、以及长轴长或短轴长,所述颗粒分析装置包括偏振光关系值计算部,计算出将两种偏振光成分的光强度作为参数的偏振光关系值;长宽比计算部,使用偏振光关系值与长宽比的关系,从由偏振光关系值计算部得到的偏振光关系值计算出长宽比;扩散系数取得部,取得表示试样中的颗粒的举动的扩散系数;以及轴长计算部,使用扩散系数、长轴长和长宽比的关系,从由长宽比计算部计算出的长宽比和由扩散系数取得部取得的扩散系数计算出长轴长。
  • 颗粒分析装置方法

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