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[发明专利]可防止故障的探针块阵列测试装置-CN202210692577.8在审
发明人：李薰九;韩相学 -专利权人： 株式会社TSE
申请日： 2022-06-17 - 公布日： 2023-01-13 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本发明涉及一种可防止故障的探针块阵列测试装置。更详细地，涉及如下的可防止故障的探针块阵列测试装置，即，在拆卸探针单元时，可在探针块移送部的所在位置与拆卸位置不同的情况下防止因探针块掉落而损坏测试装置及被测对象，可在使探针单元结合时防止探针块移送部位于已安装有探针块的位置或将探针块安装到与目标位置不同的位置。
可防止故障探针阵列测试装置

[发明专利]导电性粒子及具有其的信号传输连接器-CN201980069585.3有效
发明人：吴昌洙;金宝炫;尹性皓 -专利权人： 株式会社TSE
申请日： 2019-10-23 - 公布日： 2022-09-13 - 主分类号： H01B5/00 文献下载
摘要：本发明用于提供通过改善可防止导电性粒子之间的不规则擦洗(scrub)现象，并可提高信号传递特性的导电性粒子及具有其的信号传输连接器。本发明的导电性粒子形成于信号传输连接器，在上述信号传输连接器中，由弹性绝缘物质形成的绝缘部以使多个导电部相互隔开的方式对其进行支撑，使得上述信号传输连接器能够联接到电子部件来传输电信号，上述导电性粒子包括导电性粒子主体及锯齿部，上述导电性粒子主体具有平坦且相互平行的一面及另一面。上述锯齿部包括多个导电性粒子突起及多个导电性粒子槽，上述多个导电性粒子突起从上述导电性粒子主体的边缘向外侧突出，一端部位于与上述导电性粒子主体的一面相同的高度处，另一端部位于与上述导电性粒子主体的另一面相同的高度处，上述多个导电性粒子槽形成于上述多个导电性粒子突起之间，上述导电性粒子配置于导电部内，以使上述锯齿部通过上述导电性粒子突起向其他导电性粒子的导电性粒子槽插入的方式与其他导电性粒子的锯齿部相啮合并电连接。
导电性粒子具有信号传输连接器

[发明专利]信号传输连接器用导电部保护部件及其制造方法、具有其的信号传输连接器及其制造方法-CN202080005787.4有效
发明人：吴昌洙;金宝炫;尹性皓 -专利权人： 株式会社TSE
申请日： 2020-01-03 - 公布日： 2022-06-24 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明提供可以保护导电部的信号传输连接器用导电部保护部件及其制造方法、具有其的信号传输连接器及其制造方法，以能够使与如半导体封装件的电子部件的端子相接触的导电部的变形及损伤最小化。本发明的信号传输连接器包括：多个导电部，在弹性绝缘物质内包含多个导电性粒子，以能够联接到电子部件的端子；绝缘体，由弹性绝缘物质形成，包围多个导电部周围来以使多个导电部相互隔开的方式对其进行支撑；以及多个导电部保护部件，以与多个导电部相对应的方式与绝缘体相结合，从与各自对应的导电部隔开来包围对应导电部。导电部保护部件包括中空管形态的保护部件主体及螺旋槽，上述保护部件主体包围导电部，上述螺旋槽沿着保护部件主体的周围以螺旋形设置，以贯通保护部件主体的内部和外部，从而可以沿着导电部的长度方向发生弹性变形。
信号传输连接器用导电保护部件及其制造方法具有连接器

[发明专利]能够实现单个探针块自动精密控制的阵列测试装置-CN202110530406.0在审
发明人：金昌奎;李艺瑟 -专利权人： 株式会社TSE
申请日： 2021-05-14 - 公布日： 2021-12-03 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本发明的能够实现单个探针块自动精密控制的阵列图案测试装置通过探针块的单个控制来检测受检对象基板的图案是否不合格，可包括：底部，包括桁架；基板放置部，配置在底部的上部，用于在上表面放置受检对象并移动基板；以及探针龙门架，配置在基板放置部的一侧，通过与借助上述基板放置部进行移动的受检对象基板的至少一部分相接触，来测定基板的电特性。
能够实现单个探针自动精密控制阵列测试装置

[发明专利]半导体测试插座的历史管理垫、其制造方法及包括历史管理垫的半导体测试装置-CN201880042852.3有效
发明人：金宝炫;李允珩 -专利权人： 株式会社TSE
申请日： 2018-07-23 - 公布日： 2020-09-01 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种形成于半导体测试插座，而执行插座的寿命管理、掌握库存、被测设备有关信息及位置掌握等历史管理，获得准确的数据，而能够正确地判断插座的交替时点的半导体测试插座的历史管理垫、其制造方法及包括历史管理垫的半导体测试装置。本发明的一种半导体测试插座的历史管理垫，设置在由插座主体和插座框形成的半导体测试插座的所述插座框的外廓一侧，包括：塑膜部件，具有绝缘性，由厚度方向形成有多个电极部；导引膜部件，形成于所述塑膜部件的上部，导引将追踪芯片安装在所述塑膜部件并支撑；追踪芯片(tracking chip)，与所述塑膜部件的电极部的上端部可通电地连接；及固定构件，用于将所述追踪芯片坚固地固定在所述导引膜部件，从与所述电极部对应的位置形成的插座框的孔突出的所述电极部的下端部与插座印刷电路板的焊盘连接。
半导体测试插座历史管理制造方法包括装置

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