专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种扫频阵列校准方法-CN201510334031.5有效
  • 黄晓静;李希彬 - 中国电子科技集团公司第二十二研究所
  • 2015-06-16 - 2018-01-16 - G01R25/00
  • 本发明公开了一种扫频阵列校准方法,其改进之处在于,包括以下步骤步骤1,校准源发射扫频信号;步骤2,阵列接收设备依次采集单频信号;步骤3,对步骤2采集的单频信号进行积累处理;步骤4,对步骤3所得的相位矢量Pn按阵列相位模型进行拟合,使得实际测量数据与理论模型的偏差最小,得到拟合相位矢量Qn;步骤5,利用步骤4所得的拟合相位矢量Qn,得到阵列的通道相位差异矢量Q0。本发明所公开的扫频阵列校准方法,通过多频点的整体相位模型对阵列进行校准,无需预知校准源位置,利用统计减小了到达角预计等因素带来的偏差,消除了校准值随频率的波动。
  • 一种阵列校准方法
  • [发明专利]一种焊缝中气孔形态及分布的无损检测新方法-CN201310105079.X无效
  • 芦凤桂;李希彬;唐新华;崔海超;吴毅雄 - 上海交通大学
  • 2013-03-28 - 2013-08-07 - G01N23/18
  • 本发明公开了一种焊缝中气孔形态及分布的无损检测新方法,该方法采用新型的Nano-CT断层成像系统对焊件进行检测,采用X射线源对焊接构件进行360°扫描,当X射线穿透焊件时会有一定程度的衰减,而穿过焊缝中气孔的X射线能量衰减会明显低于周围射线,用平板探测器接收到不同程度衰减的透射能量,从而得到多组断层扫描图像,然后对多组断层数据进行三维重构,得到焊缝中气孔缺陷的三维检测图像。本发明检测方法分辨率高、成像直观,且不受焊件材料种类、形状结构等因素的影响,能够得到焊缝中气孔三维形貌、孔径尺寸及空间分布特征等常规方法难以得到的重要信息,对于气孔的分类、缺陷评估等方面具有重要意义。
  • 一种焊缝气孔形态分布无损检测新方法

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