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[发明专利]测试晶圆的探针卡-CN202111242497.4在审
发明人：赵浚秀 -专利权人： 普罗-2000有限公司
申请日： 2021-10-25 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：公开了一种用于测试晶圆的探针卡。所述探针卡包括基板和块，所述块包括绝缘部和设置在所述绝缘部上的导电部。其中所述绝缘部包括通孔和与待测物体接触的探针。所述导电部包括电连接至所述基板的触点以及穿过所述通孔并将触点电连接至探针的导电图案。多个这样的探针之间的间距小于多个这样的触点之间的间距。所述块包括多个单位块。所述多个单位块每个包括所述绝缘部和所述导电部，并且所述单位块的绝缘部的至少部分布置为彼此间隔开。
测试探针

[发明专利]用于测试显示面板的探针头-CN202010896033.4在审
发明人：李镕宽 -专利权人： 普罗-2000有限公司
申请日： 2020-08-31 - 公布日： 2021-03-05 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：公开了一种用于测试显示面板的探针头，其包括主体、构造成与面板接触的第一接触部、构造成与面板接触的第二接触部、构造成将主体连接到第一接触部的第一臂、以及构造成将主体连接到第二接触部的第二臂。其中，第一臂和第二臂每个都从主体水平延伸。第一臂和第二臂布置成在垂直方向间隔开。第一接触部和第二接触部布置成在前后方向间隔开。第一臂布置在第二臂的下面。第一接触部布置在第二接触部的前方。而且，布置在主体和第二臂之间的边界上的第二角部位于布置在主体和第一臂之间的边界上的第一角部的后方。
用于测试显示面板探针

[外观设计]用于测试显示面板的探针块-CN201830069454.3有效
发明人：朴钟铉;李镕宽;吴制宪;李泫镇 -专利权人： 普罗-2000有限公司
申请日： 2018-02-13 - 公布日： 2018-09-28 - 主分类号： 10-07 文献下载
摘要：1．本外观设计产品的名称：用于测试显示面板的探针块。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于测试显示面板。3．本外观设计产品的设计要点：在于其形状。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图1。
外观设计测试显示面板探针块图片

[发明专利]针式插接板-CN201710063683.9在审
发明人：朴钟铉;李镕宽 -专利权人： 普罗-2000有限公司
申请日： 2017-02-03 - 公布日： 2017-08-11 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：提供一种针式插接板。本发明的用于面板检查的针式插接板包括底座；基板，其结合于底座的下部；以及多个探针，其一端形成有用于与面板的导线接触的突出部，另一端与基板的底面接合。
插接

[发明专利]用于调整薄膜间距的夹具、具有该夹具的薄膜接合装置及使用该装置调整薄膜间距的方法-CN201180051689.5有效
发明人：赵濬秀;朴钟铉 -专利权人： 普罗-2000有限公司
申请日： 2011-12-07 - 公布日： 2013-07-10 - 主分类号： G02F1/1345 文献下载
摘要：本发明提供一种用于调整薄膜间距的夹具。所述夹具包括安装在基板上的薄膜放置件以及安装在所述基板上的薄膜间距调整件，在所述薄膜放置件上放置包括具有规则间距的电极线的TCP薄膜；安装在基板上的所述薄膜间距调整件通过接收来自所述薄膜放置件两侧的外力沿水平方向滑动，其中，放置的TCP薄膜的两端固定至所述薄膜间距调整件。因此，可调整TCP薄膜的间距，所述TCP薄膜连接LCD模块之间的电信号。
用于调整薄膜间距夹具具有接合装置使用方法

[发明专利]用于测试LCD面板的薄膜和测试装置及该装置的制造方法-CN201180051554.9有效
发明人：任利彬;许南重;赵濬秀 -专利权人： 普罗-2000有限公司
申请日： 2011-10-19 - 公布日： 2013-07-03 - 主分类号： G02F1/1345 文献下载
摘要：本发明提供一种用于测试液晶显示(LCD)面板的薄膜、一种用于测试LCD面板的测试装置以及制造该测试装置的方法。该测试装置包括:薄膜，该薄膜设置成在其上具有多条第一线与多条第二线，其中所述第一线接收多个测试信号，且所述第二线与所述第一线分开设置，所述第二线将自所述第一线接收的所述测试信号分支为n个测试信号(n为自然数)并将被分支的测试信号传送至LCD面板的对应的多条输入线;线路连接单元，所述线路连接单元设置成在基板上形成并包括多条金属线以将经由所述第一线接收的所述测试信号传送至各自对应的所述第二线;以及多个凸块，所述凸块设置成将所述第一线与所述第二线电性连接至对应的所述金属线。
用于测试 lcd 面板薄膜装置制造方法

[发明专利]用于测试LCD面板的探测单元-CN201180039770.1无效
发明人：任利彬;许南重;赵濬秀;朴钟铉 -专利权人： 普罗-2000有限公司
申请日： 2011-08-17 - 公布日： 2013-04-24 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本发明提供了一种探测单元。用于测试液晶面板的探测单元包括：主体块，被配置成具有底面，其中，在液晶面板中使用的标签IC薄膜被附着于该底面，同时该标签IC薄膜的一端被折叠，并允许在标签IC薄膜上形成的金属线与在液晶面板上形成的电极线一对一接触；以及柔性印刷电路板，被配置成与所述标签IC薄膜的另一端电连接，并通过所述标签IC薄膜提供测试信号至液晶面板。
用于测试 lcd 面板探测单元

[发明专利]用于LCD面板检测的探针板、包括该探针板的探针单元、以及制造该用于LCD面板检测的探针板的方法-CN201180019160.5有效
发明人：任利彬;许南重;赵濬秀 -专利权人： 普罗-2000有限公司
申请日： 2011-04-08 - 公布日： 2013-01-02 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本发明提供一种探针板。该探针板包括：第一线路区域，该第一线路区域具有在其上排列的多个第一线路集合，每一个线路集合由预设数量的线路组成，该第一线路区域包括用于将每个第一线路集合的一端暴露在外的输出部分和用于将每个第一线路集合的另一端暴露在外的第一接合部分；第二线路区域，该第二线路区域安置在所述第一线路区域的对侧，该第二线路区域具有在其上排列的多个第二线路集合，每一个线路集合由预设数量的线路组成，该第二线路区域包括用于面向所述第一线路区域的方向将每个第二线路集合的一端暴露在外的第二接合部分和用于将每个第二线路集合的另一端暴露在外的输入部分；接合区域，该接合区域安置在所述第一线路区域和所述第二线路区域之间，并且具有分别由预设数量的线路组成的辅助线路集合，其中所述辅助线路集合中的全部线路的每个线路的一端在所述第一接合区域中连接至所述第一线路集合的所对应的线路，并且其中至少一个辅助线路集合中的每个线路的另一端在所述第二接合部分中连接至所述第二线路集合的所对应的线路，而在剩余的辅助线路集合中的每个线路的另一端在所述第二接合部分中被暴露在外；以及线路连接板，该线路连接板具有分别由预设数量的线路组成的多个第三线路集合，其中所述第三线路集合中的每个线路的一端在所述第一接合部分中与所述第一线路集合中的每个线路的另一端连接，并且其中所述第三线路集合中的每个线路的另一端在所述第二接合部分中与所述辅助线路集合中的每个线路的另一端连接，从而，已经通过输入部分接收的输入信号可以通过所述第一线路集合的输出部分被重复地输出。
用于 lcd 面板检测探针包括单元以及制造方法

[发明专利]用于测试膜封装的探测卡-CN201080011883.6有效
发明人：任利彬;许南重;赵濬秀 -专利权人： 普罗-2000有限公司
申请日： 2010-03-11 - 公布日： 2012-02-08 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于测试膜封装的探测卡。用于测试膜封装的该探测卡包括主体块和膜探针。该主体块安装在印刷电路板(PCB)上。该膜探针安装在主体块上，该膜探针上形成具有与膜封装的输出引线键合(OLB)焊垫相同节距的引线。膜探针的引线与膜封装的相应OLB焊垫接触且测试膜封装。
用于测试封装探测

[发明专利]用于测试面板的探测装置-CN201080011466.1有效
发明人：任利彬;许南重;赵濬秀 -专利权人： 普罗-2000有限公司
申请日： 2010-03-08 - 公布日： 2012-02-08 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：提供一种用于测试面板的探测装置。所述探测装置包括主体部和柔性印刷电路板(FPCB)。所述主体块，具有底部，在所述底部上安装有用于所述面板中的卷带自动接合(TAB)集成电路(IC)，并且所述卷带自动接合(TAB)集成电路(IC)与所述面板的引线接触，在与所述TAB IC和所述面板之间的接触部分相对的一侧形成缓冲块，所述缓冲块用于保持所述接触部分的平面度，并向所述接触部分提供弹力。所述FPCB，电连接到所述TAB IC的后部并且经由所述TAB IC向所述面板传输测试信号。
用于测试面板探测装置

[发明专利]用于测试面板的探测装置-CN201080011431.8无效
发明人：任利彬;许南重;赵濬秀 -专利权人： 普罗-2000有限公司
申请日： 2010-03-05 - 公布日： 2012-02-08 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：提供一种用于测试面板的探测装置。所述探测装置包括传输控制协议(TCP)块和柔性印刷电路板(FPCB)。所述TCP块安装在操纵器的底部上，所述操纵器安装在探针基座的端部，在所述TCP块中，形成有与所述面板的对应引线具有相同节距的探针引线，所述探针引线与所述面板的引线接触并测试所述面板。所述FPCB电连接到所述TCP块的后端并且经由所述TCP块向所述面板传输测试信号。
用于测试面板探测装置

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