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[实用新型]周转料盘-CN202022839115.3有效
发明人：杨建设;张雅凯;缪凯;李增明 -专利权人： 昆山晔芯电子科技有限公司
申请日： 2020-12-01 - 公布日： 2021-09-24 - 主分类号： B65D77/04 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种周转料盘，包括主料盘、用于承载产品的多个子料盘以及用于将所述子料盘卡紧于所述主料盘的卡紧组件，所述主料盘开设有多个料盘腔，所述子料盘放置于所述料盘腔内，所述料盘腔的内壁可拆卸连接有防止所述子料盘方向放反的第一标识件。本实用新型提供的周转料盘，当需要调整产品的放置方向时，可以将子料盘从主料盘上取料，翻转方向后重新放置于料盘腔中，使周转料盘的通用性更强。料盘腔的内壁可拆卸连接有第一标识件，第一标识件可以防止子料盘方向防反，在调整子料盘的方向之前，调整第一标识件的位置即可保证子料盘的方向放置正确。
周转

[实用新型]产品点数装置及芯片测试设备-CN202022214764.4有效
发明人：杨建设;张雅凯;缪凯;樊飞 -专利权人： 昆山晔芯电子科技有限公司
申请日： 2020-09-30 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： B07C5/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种产品点数装置及芯片测试设备，产品点数装置包括料盘传输机构，用于运输装满待检测产品的料盘，料盘传输机构的传输方向沿Y轴设置；外观检查机构，设于料盘传输机构的上方，且用于确认产品的数量、检查产品的外观和放置方向；补料传输机构，用于运输补料盘，补料传输机构的传输方向沿Y轴设置；以及抓取机构，用于去除不良品，并从补料传输机构上的补料盘抓取产品填补至料盘传输机构上的料盘，抓取机构包括X轴移动模组以及设于X轴移动模组上的抓料组件。本实用新型提供的产品点数装置及芯片测试设备，实现了对产品的自动点数、检测以及补料，极大地降低了人力成本，减小了误检、漏检的情况发生，提高了出货质量。
产品点数装置芯片测试设备

[实用新型]料盘传输装置及芯片测试设备-CN202022214919.4有效
发明人：杨建设;张雅凯;缪凯;贾勇 -专利权人： 昆山晔芯电子科技有限公司
申请日： 2020-09-30 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： B65G60/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种料盘传输装置及芯片测试设备，料盘传输装置包括：料盘分层机构，包括第一升降组件以及用于分离最底层料盘和其他料盘的第一承托组件；料盘移动机构，包括传输驱动件、由传输驱动件驱动且用于放置料盘的承载盘、用于将料盘卡紧的卡紧组件以及导轨结构；料盘堆叠机构，包括用于支撑堆叠料盘的第二承托组件以及用于将承载盘上的料盘推顶至堆叠料盘的底部的第二升降组件。本实用新型提供的料盘传输装置及芯片测试设备，实现料盘的自动分层和堆叠，提高料盘传输装置的自动化程度。料盘移动机构设置有用于导向料盘的导轨结构，使得料盘传输更加稳定，还设有用于卡紧料盘的卡紧组件，可以减小料盘翻转的可能性。
传输装置芯片测试设备

[实用新型]功能外观一体测试设备-CN202022214920.7有效
发明人：杨建设;张雅凯;缪凯;贾勇 -专利权人： 昆山晔芯电子科技有限公司
申请日： 2020-09-30 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： B07C5/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种功能外观一体测试设备，包括：料盘入料机构；功能测试机构，用于对产品进行功能测试；测试抓取机构，用于抓取产品并移动至功能测试机构，并将检测完成的良品移动至良品出料机构；外观测试机构，用于确认产品的数量、检查产品的外观和放置方向；良品出料机构；补料抓取机构，用于将不良品移动至不良品放置机构，并装填良品；补料传输机构，为补料抓取机构提供良品；以及不良品放置机构，用于放置不良品。本实用新型提供的功能外观一体测试设备，既可以对产品进行功能测试，也可以对产品进行外观测试，可以简化测试过程，无需人工在两台设备之间搬运料盘，从而提高测试效率、减小人力投入。
功能外观一体测试设备

[实用新型]产品抓取装置及芯片测试设备-CN202022220071.6有效
发明人：杨建设;张雅凯;缪凯;樊飞 -专利权人： 昆山晔芯电子科技有限公司
申请日： 2020-09-30 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： B65G49/06 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种产品抓取装置及芯片测试设备，产品抓取装置包括：第一传输机构，用于传输装载有待检测产品的料盘，第一传输机构的传输方向沿Y轴设置；第二传输机构，用于传输装载有检测后产品的料盘，第二传输机构的传输方向沿Y轴设置；抓取机构，包括X轴移动模组、设于X轴移动模组的Z轴移动模组以及用于从第一传输机构抓取产品并向第二传输机构放置产品的抓料组件；Y轴移动模组；以及测试座。本实用新型提供的产品抓取装置及芯片测试设备，抓取机构从第一传输机构取料后移动至测试座上方，将产品放置在测试座上测试，测试完毕后，抓取机构将产品移动至第二传输机构，如此实现产品抓取装置的自动化。
产品抓取装置芯片测试设备

[发明专利]周转料盘-CN202011382568.6在审
发明人：杨建设;张雅凯;缪凯;李增明 -专利权人： 昆山晔芯电子科技有限公司
申请日： 2020-12-01 - 公布日： 2021-05-11 - 主分类号： B65D77/04 文献下载
摘要：本发明提供了一种周转料盘，包括主料盘、用于承载产品的多个子料盘以及用于将所述子料盘卡紧于所述主料盘的卡紧组件，所述主料盘开设有多个料盘腔，所述子料盘放置于所述料盘腔内，所述料盘腔的内壁可拆卸连接有防止所述子料盘方向放反的第一标识件。本发明提供的周转料盘，当需要调整产品的放置方向时，可以将子料盘从主料盘上取料，翻转方向后重新放置于料盘腔中，使周转料盘的通用性更强。料盘腔的内壁可拆卸连接有第一标识件，第一标识件可以防止子料盘方向防反，在调整子料盘的方向之前，调整第一标识件的位置即可保证子料盘的方向放置正确。
周转

[实用新型]上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机-CN202022219975.7有效
发明人：杨建设;张雅凯;缪凯;刘雪飞 -专利权人： 昆山晔芯电子科技有限公司
申请日： 2020-09-30 - 公布日： 2021-04-20 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机，上盖组件包括上盖支架、镜头固定座、设于镜头固定座内的镜头、上压片固定座、上压片、设于上盖支架内的第一加热结构以及上盖电路板，上盖支架的一侧开设有镜头腔，上盖支架的另一侧开设有压片腔，镜头固定座固定于镜头腔内，上压片固定座固定于压片腔内，上压片固定于上压片固定座且用于压紧芯片。本实用新型提供的上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机，通过设置镜头固定座和上压片固定座，使得在更换芯片之后，可以通过调整镜头相对镜头固定座的位置或者更换镜头固定座、通过调整上压片相对上压片固定座的位置或者更换上压片固定座即可以适用于不同的芯片。
组件芯片测试机构一体机

[发明专利]产品点数装置及芯片测试设备-CN202011063106.8在审
发明人：杨建设;张雅凯;缪凯;樊飞 -专利权人： 昆山晔芯电子科技有限公司
申请日： 2020-09-30 - 公布日： 2021-01-22 - 主分类号： B07C5/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种产品点数装置及芯片测试设备，产品点数装置包括料盘传输机构，用于运输装满待检测产品的料盘，料盘传输机构的传输方向沿Y轴设置；外观检查机构，设于料盘传输机构的上方，且用于确认产品的数量、检查产品的外观和放置方向；补料传输机构，用于运输补料盘，补料传输机构的传输方向沿Y轴设置；以及抓取机构，用于去除不良品，并从补料传输机构上的补料盘抓取产品填补至料盘传输机构上的料盘，抓取机构包括X轴移动模组以及设于X轴移动模组上的抓料组件。本发明提供的产品点数装置及芯片测试设备，实现了对产品的自动点数、检测以及补料，极大地降低了人力成本，减小了误检、漏检的情况发生，提高了出货质量。
产品点数装置芯片测试设备

[发明专利]产品抓取装置及芯片测试设备-CN202011058038.6在审
发明人：杨建设;张雅凯;缪凯;樊飞 -专利权人： 昆山晔芯电子科技有限公司
申请日： 2020-09-30 - 公布日： 2020-12-29 - 主分类号： B65G49/06 文献下载
摘要：本发明提供了一种产品抓取装置及芯片测试设备，产品抓取装置包括：第一传输机构，用于传输装载有待检测产品的料盘，第一传输机构的传输方向沿Y轴设置；第二传输机构，用于传输装载有检测后产品的料盘，第二传输机构的传输方向沿Y轴设置；抓取机构，包括X轴移动模组、设于X轴移动模组的Z轴移动模组以及用于从第一传输机构抓取产品并向第二传输机构放置产品的抓料组件；Y轴移动模组；以及测试座，由Y轴移动模组驱动沿Y轴移动。本发明提供的产品抓取装置及芯片测试设备，抓取机构从第一传输机构取料后移动至测试座上方，将产品放置在测试座上测试，测试完毕后，抓取机构将产品移动至第二传输机构，如此实现产品抓取装置的自动化。
产品抓取装置芯片测试设备

[发明专利]料盘传输装置及芯片测试设备-CN202011058040.3在审
发明人：杨建设;张雅凯;缪凯;贾勇 -专利权人： 昆山晔芯电子科技有限公司
申请日： 2020-09-30 - 公布日： 2020-12-29 - 主分类号： B65G60/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种料盘传输装置及芯片测试设备，料盘传输装置包括：料盘分层机构，包括第一升降组件以及用于分离最底层料盘和其他料盘的第一承托组件；料盘移动机构，包括传输驱动件、由传输驱动件驱动且用于放置料盘的承载盘、用于将料盘卡紧的卡紧组件以及导轨结构；料盘堆叠机构，包括用于支撑堆叠料盘的第二承托组件以及用于将承载盘上的料盘推顶至堆叠料盘的底部的第二升降组件。本发明提供的料盘传输装置及芯片测试设备，实现料盘的自动分层和堆叠，提高料盘传输装置的自动化程度。料盘移动机构设置有用于导向料盘的导轨结构，使得料盘传输更加稳定，还设有用于卡紧料盘的卡紧组件，可以减小料盘翻转的可能性。
传输装置芯片测试设备

[发明专利]功能外观一体测试设备-CN202011058064.9在审
发明人：杨建设;张雅凯;缪凯;贾勇 -专利权人： 昆山晔芯电子科技有限公司
申请日： 2020-09-30 - 公布日： 2020-12-25 - 主分类号： B07C5/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种功能外观一体测试设备，包括：料盘入料机构；功能测试机构，用于对产品进行功能测试；测试抓取机构，用于抓取产品并移动至功能测试机构，并将检测完成的良品移动至良品出料机构；外观测试机构，用于确认产品的数量、检查产品的外观和放置方向；良品出料机构；补料抓取机构，用于将不良品移动至不良品放置机构，并装填良品；补料传输机构，为补料抓取机构提供良品；以及不良品放置机构，用于放置不良品。本发明提供的功能外观一体测试设备，既可以对产品进行功能测试，也可以对产品进行外观测试，可以简化测试过程，无需人工在两台设备之间搬运料盘，从而提高测试效率、减小人力投入。
功能外观一体测试设备

[发明专利]分段曝光成像高动态恢复方法及系统-CN201810042446.9有效
发明人：邵科;马伟剑 -专利权人： 昆山晔芯电子科技有限公司
申请日： 2018-01-16 - 公布日： 2020-12-01 - 主分类号： H04N5/235 文献下载
摘要：本发明提出一种分段曝光成像高动态恢复方法及系统，该方法包括以下步骤：获取第一曝光段的段末曝光时刻T1的各个像素亮度值V1i及第二曝光段的段末曝光时刻T的各个像素亮度值Vi，所述第一曝光段先于第二曝光段；计算每个像素点对应的当前光强的斜率值K；根据各个斜率值K和两个曝光段的总曝光时间T，计算各个像素点的当前像素亮度值Vxi＝K*T；根据第一曝光段的平均过曝值确定一过曝比较范围，对各个像素亮度值V1i进行比较判断并处理，从而得到恢复的高动态图像。本发明的分段曝光成像高动态恢复方法及系统，恢复高动态图像的同时消除了分段曝光引入的固定偏差，无需额外的校正。
分段曝光成像动态恢复方法系统

[发明专利]上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机-CN202011063128.4在审
发明人：杨建设;张雅凯;缪凯;刘雪飞 -专利权人： 昆山晔芯电子科技有限公司
申请日： 2020-09-30 - 公布日： 2020-11-24 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明提供了一种上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机，上盖组件包括上盖支架、镜头固定座、设于镜头固定座内的镜头、上压片固定座、上压片、设于上盖支架内的第一加热结构以及上盖电路板，上盖支架的一侧开设有镜头腔，上盖支架的另一侧开设有压片腔，镜头固定座固定于镜头腔内，上压片固定座固定于压片腔内，上压片固定于上压片固定座且用于压紧芯片。本发明提供的上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机，通过设置镜头固定座和上压片固定座，使得在更换芯片之后，可以通过调整镜头相对镜头固定座的位置或者更换镜头固定座、通过调整上压片相对上压片固定座的位置或者更换上压片固定座即可以适用于不同的芯片。
组件芯片测试机构一体机

[发明专利]一种单帧高动态范围成像方法及系统-CN201810947850.0有效
发明人：邵科;马伟剑 -专利权人： 昆山晔芯电子科技有限公司
申请日： 2018-08-20 - 公布日： 2020-07-03 - 主分类号： H04N5/235 文献下载
摘要：本发明提供一种单帧高动态范围成像方法及系统。所述单帧高动态范围成像方法包括：在图像传感器的EEPROM中设置一条或多条不同动态电压曲线，所述每条动态电压曲线包括n个动态电压值；曝光开始前，将EEPROM中的n个动态电压值读取到RAM中，以向连接光电二极管的传输晶体管提供动态电压值；采集单帧图像的曝光过程中，每间隔时间Ti从RAM中读取第i个动态电压值施加在所述传输晶体管的栅极上，调整像素电路的电荷存储容量；曝光结束后，将像素电路累积采集的电信号转换成数字信号以图像格式输出。通过在曝光过程中动态调节曝光饱和值，对曝光过程中累积的电荷量进行限制，实现在曝光结束后电荷存储量在最大饱和值内，进行有效采集，实现单帧高动态成像。
一种单帧高动态范围成像方法系统

[发明专利]分段曝光成像自动曝光调节方法及系统-CN201810042123.X有效
发明人：邵科;马伟剑 -专利权人： 昆山晔芯电子科技有限公司
申请日： 2018-01-16 - 公布日： 2020-06-09 - 主分类号： H04N5/235 文献下载
摘要：本发明提出一种分段曝光成像自动曝光调节方法及系统，该方法包括：针对曝光过程中的第一曝光段和第二曝光段，设置第一曝光段的时间T1和两段曝光段的总时间T的初始值；统计图像的平均亮度Ya、非过曝区域占图像的比例K％及非过曝区域的平均亮度Yk；将非过曝区域的平均亮度Yk与目标亮度值范围进行比较，根据比较结果调整总时间T；将非过曝区域占图像的比例K％与过曝比beta％进行比较：若K％大于beta％，则将图像的平均亮度Ya与目标亮度值范围进行比较，根据比较结果继续调整总时间T；否则，将图像的平均亮度Ya与目标亮度值范围进行比较，根据比较结果调整时间T1。本发明的分段曝光成像自动曝光调节方法及系统，防止过曝，提升图像整体对比度。
分段曝光成像自动调节方法系统

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