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专利名称

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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]面板检测装置与方法-CN201610051638.7有效
发明人：叶肇懿;苏品铨;杨尚伦;刘智远 -专利权人： 政美应用股份有限公司
申请日： 2016-01-26 - 公布日： 2020-05-08 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种面板检测装置，包含一承载平台、一输送平台以及一面板检测总成。输送平台设置于承载平台上方，且输送平台上具有用来推送面板的一推料模块。面板检测总成包含多个光源模块以及与多个光源模块相对应的多个取像模块。多个光源模块包含一正光光源、一第一水平光光源及一背光光源，多个取像模块具有一正光取像模块、一水平光取像模块及一背光取像模块，且推料模块适于推送面板横越过承载平台，使多个光源模块所发射的多个光束可扫描面板进行检测。
面板检测装置方法

[发明专利]对位圆片的总成及方法-CN201410201463.4有效
发明人：蔡政道 -专利权人： 政美应用股份有限公司
申请日： 2014-05-13 - 公布日： 2017-08-01 - 主分类号： B65G43/08 文献下载
摘要：本发明为一种用以对位圆片的总成及方法，该对位总成包含一输送装置、一承载平台及一取像装置。输送装置适于抓取及置放圆片，承载平台其上定义有一标准位置，使承载平台可移动地藉由标准位置承载圆片。取像装置设置于输送装置与承载平台之间，并对圆片进行一取像程序。其中，输送装置在抓取圆片后，将圆片置于取像装置下方进行取像程序，承载平台接着依据取像程序所计算的一偏移量进行一轴向微调，供输送装置将圆片置放于承载平台的标准位置。
对位总成方法

[发明专利]检测及分类LED圆片的检测总成及方法-CN201410158691.8有效
发明人：蔡政道 -专利权人： 政美应用股份有限公司
申请日： 2014-04-18 - 公布日： 2017-04-12 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明是关于一种用以检测及分类多个LED圆片的检测总成及方法，该总成包含多个卡匣、一光学检测装置、一第一输送单元及一第二输送单元。多个卡匣分别设置于一待测区及一测定区中，用以承载这些LED圆片。光学检测装置是设置于待测区及测定区之间，以检测这些LED圆片。第一输送单元适于自待测区的这些卡匣中移动这些LED圆片至光学检测装置，且第二输送单元适于自光学检测装置移动这些LED圆片至测定区的这些卡匣中。
检测分类 led 总成方法

[发明专利]触控面板的检测方法及装置-CN201510916130.4在审
发明人：叶肇懿;罗烘钧;杨尚伦;林志远 -专利权人： 政美应用股份有限公司
申请日： 2015-12-10 - 公布日： 2016-08-10 - 主分类号： G06F3/041 文献下载
摘要：本发明提供了一种触控面板的检测方法，该检测方法包含下列步骤：(a)利用一运输装置移动一触控面板；(b)将触控面板置放于一液晶显示屏幕；(c)使液晶显示屏幕输出至少一条纹光图案；(d)利用至少一摄影机获取至少一条纹光图案穿透触控面板后的一影像；以及(e)利用一处理器分析影像，以完成触控面板的检测作业。
面板检测方法装置

[发明专利]光偏折检测模块及使用其检测及误差校正的方法-CN201510446795.3在审
发明人：蔡政道 -专利权人： 政美应用股份有限公司
申请日： 2015-07-27 - 公布日： 2016-03-02 - 主分类号： G06K9/03 文献下载
摘要：本发明关于一种光偏折检测模块，包含一检测载台、一面光源、至少两个扫描摄影机及一矫正标准面。检测载台用以承载待测物，面光源设置于检测载台上方，提供一平面光朝检测载台照射。至少两个扫描摄影机设置于面光源的相对侧。矫正标准面邻设于检测载台。其中，当面光源朝检测载台照射平面光后，平面光将会被待测物的表面及矫正标准面反射，至少两个扫描摄影机在接收被待测物的表面及矫正标准面所反射的平面光后，适于由一处理器进行一数值分析，以获得相关检测数据并进行误差校正作业。
光偏折检测模块使用误差校正方法

[发明专利]测量图案化蓝宝石基板的方法-CN201510446515.9在审
发明人：蔡政道 -专利权人： 政美应用股份有限公司
申请日： 2015-07-27 - 公布日： 2016-03-02 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本发明关于一种光学测量方法，用以测量一图案化蓝宝石基板的一表面状态，包含下列步骤：利用一自动光学检查程序检查图案化蓝宝石基板的表面，以定义一良品区域与一缺陷区域；提供一光源以发射一第一光束；使第一光束依序通过一光纤连接器及一光学探针，而聚焦于图案化蓝宝石基板的表面上所定义的一测量焦点；其中，测量焦点位于良品区域内，光学探针在相对测量焦点处具有一针孔以供第一光束入射，且针孔与测量焦点为共轭。
测量图案蓝宝石方法

[发明专利]测量图案化蓝宝石基板的光学测量装置及方法-CN201510446543.0在审
发明人：蔡政道 -专利权人： 政美应用股份有限公司
申请日： 2015-07-27 - 公布日： 2016-03-02 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本发明关于一种光学测量装置，包含一光源、一光纤连接器、一光学探针、多个光纤及一影像处理器。光源用以发射一第一光束；光纤连接器相邻光源设置；光学探针邻设于光纤连接器，并相对光源设置；多个光纤用以分别连接光源、光纤连接器及光学探针；影像处理器与光源设置于相同侧，并与光纤连接器相互连接。其中，第一光束自光源发射后会汇聚于一图案化蓝宝石基板的一表面，第一光束为图案化蓝宝石基板的表面反射后形成一第二光束，第二光束接着依序经过光学探针、光纤连接器后，为影像处理器所接收，以进行第二光束的影像分析作业。
测量图案蓝宝石光学装置方法

[发明专利]线性扫描总成-CN201410201621.6在审
发明人：蔡政道 -专利权人： 政美应用股份有限公司
申请日： 2014-05-13 - 公布日： 2015-03-18 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明关于一种线性扫描总成，用以进行一圆片的扫描检测作业。线性扫描总成包含：一承载平台、一线性扫描装置及一线性光源。承载平台具有一通孔，圆片适于设置于通孔上，使承载平台可移动地承载圆片。线性扫描装置设置于承载平台上方，且线性光源系设置于承载平台下方，用以发射一线性光束以经由通孔穿透圆片。其中，线性扫描装置适于接收穿透圆片的线性光束，以完成圆片的扫描检测作业。
线性扫描总成

[发明专利]检测及分类晶片的装置及方法-CN201110355513.0有效
发明人：蔡政道 -专利权人： 政美应用股份有限公司
申请日： 2011-11-10 - 公布日： 2013-02-06 - 主分类号： H01L33/00 文献下载
摘要：本发明为一种用以检测及分类晶片的装置和方法，该装置包含多个卡匣、一输送单元及一检测单元。这些卡匣分别设置于一待测区及一测定区，并用以承载这些LED晶片。输送单元将这些LED晶片自待测区移至一检测区，且检测单元设置于检测区中，以检测移至检测区的这些LED晶片。这些LED晶片于检测完成后，输送单元依据检测后的一检测数据，将这些LED晶片移动至测定区的这些卡匣。
检测分类晶片装置方法

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