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[发明专利]LED显示屏非均匀性在线校正系统和校正方法-CN201210201132.1无效
发明人：邵晓鹏;黄远辉;许宏涛;杨虹;吕斐;王阳;张临临;刘飞;乔琳;钟宬;杨晓晖 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2012-06-18 - 公布日： 2012-10-10 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种LED显示屏非均匀性在线校正系统和校正方法，主要解决现有测试方法仅针对亮度均匀性、所测得亮度均匀性指标不能反映LED显示屏全局性能且无法根据测试数据进行非均匀性校正的问题。本发明用相机采集LED显示屏显示的测试图像，去噪声后用基于背景预测的方法分割LED灯点；再定位灯点的发光区域及其组成像素；然后混合灯点组成像素的颜色，得到的灯点色度坐标经粗大误差剔除后拟合成高斯曲线，求得色系坐标的均值；将坐标均值代入均匀性评估公式进行均匀性评估；最后生成校正矩阵并进行实时在线的非均匀性逐点校正。本发明具有精度高、效率高、稳定性好和校正方法简便易行的特点，可用于LED显示屏的均匀性显示性能测试与非均匀性校正。
led 显示屏均匀在线校正系统方法

[发明专利]测量CCD芯片暗电流和双倍温度常数的方法-CN201110330695.6有效
发明人：邵晓鹏;杨晓晖;黄远辉;刘飞;靳振华;王阳;张临临;梁凤明;张崇辉;许宏涛 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2011-10-26 - 公布日： 2012-06-20 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种测量CCD芯片暗电流和双倍温度常数的方法。其实现步骤为：将CCD芯片置于杜瓦瓶温控室当中，该温控室密封不透光，设置参考温度使CCD芯片工作于该温度下；再通过控制电路控制CCD芯片拍摄图像信息，上传至计算机；计算所得图像的平均灰度值；然后使用图像的灰度平均值和相应积分时间做拟合曲线，求出暗电流；最后通过测量多个不过温度条件下的暗电流，求出双倍温度常数。本发明具有参数测量精度高、稳定性好的优点，适用于CCD芯片暗电流和双倍温度常数的精确测量。
测量 ccd 芯片电流双倍温度常数方法

[发明专利]测量CCD芯片暗信号非均匀性和光子响应非均匀性的方法-CN201110329867.8无效
发明人：邵晓鹏;王阳;张临临;王杨;杨晓晖;范华;卢光旭;马菁汀;吕斐;许宏涛 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2011-10-26 - 公布日： 2012-06-20 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种测量CCD芯片暗信号非均匀性和光子响应非均匀性的方法。主要解决目前对CCD的性能参数测量精确度不够的问题。其实现步骤为：选取CCD芯片量子效率最大所对应的波长η，设置波长可调的单色均匀光源系统，产生波长为η的单色光；然后选取使CCD芯片50％曝光所对应的积分时间，以该积分时间作为参数控制CCD芯片拍摄两组图像序列上传至计算机；根据这两组图像计算总的平均灰度值和空间方差计算出CCD芯片的暗信号非均匀性DSNU和光子响应非均匀性PRNU参数，本发明具有测量精度高、稳定性好的优点。可用于对CCD芯片性能的评估。
测量 ccd 芯片信号均匀光子响应方法